特許
J-GLOBAL ID:201603014109657770

転がり軸受の軌道輪製造法および転がり軸受製造法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 小松 高 ,  和田 憲治
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-075943
公開番号(公開出願番号):特開2012-214892
特許番号:特許第6004698号
出願日: 2012年03月29日
公開日(公表日): 2012年11月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 質量%で、C:0.02〜1.20%、Si:0.02〜2.00%、Mn:0.10〜1.50%、P:0.001〜0.030%、S:0.0005〜:0.030%、Cr:0.02〜2.00%、O:0.0012〜0.0030%を含有し、残部がFeおよび不可避的不純物である組成を有し、下記に定義される介在物配列指数Kが1.0以下に調整された圧延鋼板を素材として、その圧延鋼板の板面に由来する表面(「圧延板面由来表面」という)を軌道面に持つ軌道輪を作製する、転がり軸受の軌道輪の製造法。 〔介在物配列指数K〕 鋼板の圧延方向および板厚方向に平行な断面(L断面)において、一辺の長さが板厚方向に3.0mm以上(板厚が3.0mm未満の場合は板厚全長)であり面積S(mm2)が30mm2以上である矩形領域を設定し、その矩形領域内に粒子の全体または一部が存在する介在物粒子のうち板厚方向最大長さが1μm以上のものを測定対象粒子とし、板厚方向端部のいずれか一方の鋼板表面を「基準面」と定めるとき、前記矩形領域内において、各測定対象粒子について基準面側の当該粒子表面から基準面側への板厚方向距離が60μm以下の範囲に粒子表面(前記矩形領域内にあるもの限る)が位置する他の測定対象粒子の数X(個)を測定し、全測定対象粒子についてのXの総和XALL(個)を求め、XALLを矩形領域の面積S(mm2)で除した値(個/mm2)を介在物配列指数Kとする。
IPC (7件):
F16C 33/64 ( 200 6.01) ,  B21D 53/10 ( 200 6.01) ,  F16C 33/62 ( 200 6.01) ,  F16C 19/00 ( 200 6.01) ,  C22C 38/00 ( 200 6.01) ,  C22C 38/18 ( 200 6.01) ,  C22C 38/54 ( 200 6.01)
FI (7件):
F16C 33/64 ,  B21D 53/10 Z ,  F16C 33/62 ,  F16C 19/00 ,  C22C 38/00 301 Z ,  C22C 38/18 ,  C22C 38/54
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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