特許
J-GLOBAL ID：201603014957645315
潜像担持体の特性評価装置及び特性評価方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
黒田 壽
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-014635
公開番号（公開出願番号）：特開2014-145930
特許番号：特許第6020966号
出願日： 2013年01月29日
公開日（公表日）： 2014年08月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 所定電位に帯電された後に露光されることにより潜像が形成される潜像担持体の特性評価装置であって、
前記潜像担持体の表面を所定電位に帯電させる帯電手段と、
前記帯電手段によって帯電された前記潜像担持体の表面を露光する露光手段と、
前記露光手段の光量を検出する光量検出手段と、
前記露光手段による露光後の前記潜像担持体の表面の露光後電位を検出する表面電位検出手段と、
前記潜像担持体の表面を所定電位に帯電した後に露光する光量と該光量で露光された該潜像担持体の露光後電位との関係から導かれる関係式を特定し、前記特定した関係式と、前記潜像担持体の表面の複数箇所について前記光量検出手段で検出された光量及び前記表面電位検出手段で検出された露光後電位の検出結果とに基づいて、前記潜像担持体の表面の複数箇所それぞれが所定の光量で均一露光された場合の露光後電位を推定する推定手段と、
前記露光後電位の推定結果に基づいて、前記潜像担持体の表面の複数箇所における露光後電位の最大値と最小値との差の絶対値を算出する算出手段と、を備えたことを特徴とする潜像担持体の特性評価装置。
IPC (2件)：
G03G 21/00 ( 200 6.01)
, G03G 15/00 ( 200 6.01)
G03G 21/00
, G03G 15/00 303
, G03G 21/00 510
