特許
J-GLOBAL ID:201603015662306426

X線コンピュータ断層撮影装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 蔵田 昌俊 ,  野河 信久 ,  峰 隆司 ,  河野 直樹 ,  井上 正 ,  鵜飼 健
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-077434
公開番号(公開出願番号):特開2016-198501
出願日: 2016年04月07日
公開日(公表日): 2016年12月01日
要約:
【課題】所望の画像品質に対応してX線照射にかかる条件を決定し得るX線コンピュータ断層撮影装置を提供すること。【解決手段】実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線源と、処理回路構成とを備える。X線源はX線を放射する。処理回路構成は、対象物のCTスキャンの所望の画像品質に関する決定を行う使用者によって設定される所望の検出能指標を受信する。処理回路構成は、使用者によって設定された所望の検出能指標を結果的にもたらすことになる、X線照射にかかる条件を決定する。処理回路構成は、X線源に当該決定されたX線照射にかかる条件を使用して対象物のスキャンを行わせる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
X線を放射するためのX線源と、 対象物のCTスキャンの所望の画像品質を決定する、使用者によって設定される所望の検出能指標を受信し、 前記使用者によって設定された前記所望の検出能指標を結果的にもたらすことになる、X線照射にかかる条件を決定し、 前記X線源に前記決定されたX線照射にかかる条件を使用して前記対象物のスキャンを行わせる ように構成された処理回路構成と、 を備える、X線コンピュータ断層撮影装置。
IPC (1件):
A61B 6/03
FI (1件):
A61B6/03 330B
Fターム (8件):
4C093AA22 ,  4C093BA17 ,  4C093CA01 ,  4C093FA13 ,  4C093FA18 ,  4C093FA42 ,  4C093FA59 ,  4C093FF22
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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