特許
J-GLOBAL ID:201603019908837537
解析装置、解析方法及びプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
上野 剛史
, 太佐 種一
, 明石 英也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-127217
公開番号(公開出願番号):特開2016-006587
出願日: 2014年06月20日
公開日(公表日): 2016年01月14日
要約:
【課題】入力データ中の複数の入力パラメータが変化することに応じて、出力データがどの程度変化するかを予測することを課題とする。【解決手段】複数の入力パラメータを含む入力データを入力して出力データを出力するシステムを解析する解析装置であって、入力データ及び出力データの複数の組を含む学習データを取得する取得部と、取得した学習データに基づいて、2つの入力データにおける各入力パラメータの差分に応じた出力データの相違量を学習する学習処理部とを備える解析装置、当該解析装置を用いた解析方法、及び、当該解析装置に用いるプログラムを提供する。【選択図】図3
請求項(抜粋):
複数の入力パラメータを含む入力データを入力して出力データを出力するシステムを解析する解析装置であって、
前記入力データ及び前記出力データの複数の組を含む学習データを取得する取得部と、
取得した前記学習データに基づいて、2つの入力データにおける各入力パラメータの差分に応じた出力データの相違量を学習する学習処理部と、
を備える解析装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G06F17/50 612G
, G06F19/00 110
, G06F17/50 612C
Fターム (4件):
5B046AA04
, 5B046JA07
, 5B046KA05
, 5L049DD02
引用特許:
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