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J-GLOBAL ID：201702215682481381   整理番号：17A0234371

走査式レーザー誘起超音波顕微鏡を使った小亀裂の非破壊観測

Non-destructive observations of small crack using scanning laser-induced acoustic microscope

著者 (6件)： KOYAMA Atsuhiro (Division of System Science, Graduate school of Engineering, Nagasaki University) ,  TAKASE Toru (Division of System Science, Graduate school of Engineering, Nagasaki University) ,  MOTOMURA Fumitaka (Division of System Science, Graduate school of Engineering, Nagasaki University) ,  KOGA Hiroki (Graduate school of Engineering, Nagasaki University) ,  RYU Satoshi (Graduate school of Engineering, Nagasaki University) ,  SHIBUTANI Yoji (Department of Mechanical Engineering, Osaka University)
資料名： Mechanical Engineering Journal (Web)  (Mechanical Engineering Journal (Web))
巻： 3  号： 6  ページ： 16-00147(J-STAGE)  発行年： 2016年 
JST資料番号： U0484A  ISSN： 2187-9745  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 材料中の欠陥を非破壊観測するツールとして,走査式レーザー誘起超音波顕微鏡(SLAM)を開発した。SLAMは,変調システム付きレーザー,関数発生器,ロックイン増幅器,縦波音響波を検出する音響放射(AE)センサー,XYステージ,並びに信号処理用計算機から構成されており,周期的チョッピング・レーザービームが熱波を引き起こす。自作のSLAMは,異なる材料の接合境界と材料中の小亀裂の非破壊観測に成功した。SLAMは試料中の熱特性の局所的差を感知するので,境界又は亀裂をうまく観測する。走査式レーザー誘起音響画像(LAI)は,レーザーのパワーとチョッピング周波数に影響される。このSLAMでアルミ合金を観測する場合は,ある値(105mW)以上のレーザーパワーが必要であることを明らかにした。また,LAIはレーザーのチョッピング周波数に影響され,チョッピング周波数が高くなると,比較的低い最大15kHzであってもより明確になる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *レーザ照射 ,  *超音波顕微鏡 ,  *光走査 ,  *微小亀裂 ,  *非破壊検査 ,  熱応力 ,  関数発生 ,  増幅器 ,  アコースティックエミッション ,  センサ ,  AE検査 ,  位置決め装置 ,  *温度波 ,  *音波画像 ,  *アルミニウム合金 ,  *欠陥検査 ,  *顕微鏡観察 ,  レーザ出力 ,  関数発生器 ,  X-Yステージ ,  A6063 ,  アコースティックエミッションセンサ
準シソーラス用語： 疲れ亀裂 ,  ロックイン増幅器 ,  AEセンサ

著者キーワード (5件)： Scanning laser-induced acoustic microscope ,  Non-destructive observation ,  Crack ,  Thermal stress wave ,  Acoustic wave

分類 (2件)： 金属材料試験一般  (HB02010J) ,  その他の音響応用  (BB03100I)

引用文献 (14件)：

• Ameri, S., Ash, E.A., Neuman, V. and Petts, C. R., Photo-displacement imaging, Electronics Letters, Vol.17, No.10 (1981), p. 337-338.
• Boccara, A. C., Fournier, D. and Badoz, J., Thermo-optical spectroscopy: Detection by the “mirage effect”, Applied Physics Letters, Vol.36, Issue 2 (1980), pp.130-132.
• Brandis, E. and Rosencwaig, A., Thermal-wave microscopy with electron beams, Applied Physics Letters, Vol.37, Issue 1 (1980), pp.98-100.
• Cargill, G. S. III, Ultrasonic imaging in scanning electron microscope, Nature, 286 (1980), pp.691-693.
• Grice, K. R., Inglehart, L. J., Favro, L. D., Kuo, P. K. and Thomas, R. L., Thermal wave imaging of closed cracks in opaque solids, Journal of Applied Physics, Vol.54, No.11 (1983), pp.6245-6255.

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査式 ,  レーザー誘起 ,  超音波顕微鏡 ,  亀裂 ,  観測