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J-GLOBAL ID：201702218443615891   整理番号：17A0244074

高分解能電子-電子-イオンコインシデンス分光によるSi単結晶清浄表面の表面最上層のSi2p光電子およびSi L₂₃VVオージェ電子スペクトル測定

著者 (5件)： 垣内拓大 (愛媛大 大学院) ,  藤田斉彦 (横浜国大 大学院) ,  橋本章吾 (横浜国大 大学院) ,  間瀬一彦 (物構研) ,  田中正俊 (横浜国大 大学院)
資料名： 分子科学討論会講演プログラム&要旨(Web)  (Program & Abstract. Annual Meeting of Japan Society for Molecular Science (Web))
巻： 2nd  ページ： ROMBUNNO.4D11 (WEB ONLY)  発行年： 2008年 
JST資料番号： U0350A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 同時計測 ,  *ケイ素 ,  単結晶 ,  内殻電子 ,  *Augerスペクトル ,  *計測 ,  電子スペクトル ,  光電子 ,  エネルギー分解能 ,  清浄面 ,  電子状態 ,  *表面準位 ,  スペクトロメータ
準シソーラス用語： *スペクトル測定 ,  清浄表面 ,  表面電子状態

分類 (3件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  スペクトル計測及びスペクトロメータ  (AD08030U) ,  表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (9件)： 高分解能 ,  電子 ,  分光 ,  Si単結晶 ,  清浄表面 ,  最上層 ,  光電子 ,  Si ,  オージェ電子スペクトル