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J-GLOBAL ID：201702221076175969   整理番号：17A0563748

ナノスケール電気化学イメージングのための走査型プローブ顕微鏡

Scanning Probe Microscopy for Nanoscale Electrochemical Imaging

著者 (5件)： TAKAHASHI Yasufumi (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  TAKAHASHI Yasufumi (JST-PRESTO, Saitama, JPN) ,  KUMATANI Akichika (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SHIKU Hitoshi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MATSUE Tomokazu (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 89  号： 1  ページ： 342-357  発行年： 2017年01月03日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型プローブ顕微鏡により,固体表面の化学的および電気化学的な分析を,ナノスケールの分解能で行うことができる。本総説では,これらの走査プローブ顕微鏡の最近3年間の進歩をまとめた。ここで扱う顕微鏡は,走査電気化学顕微鏡,走査イオンコンダクタンス顕微鏡,および走査電気化学細胞顕微鏡であり,観察対象は,炭素材料,生細胞,生体分子,触媒,および腐食過程等である。

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  規模 ,  化学分析 ,  *電解分析 ,  表面構造 ,  表面 ,  炭素材 ,  細胞 ,  分子 ,  触媒 ,  *表面分析 ,  画像処理
準シソーラス用語： イメージング ,  *ナノスケール ,  固体表面 ,  生体分子 ,  走査イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  走査電気化学顕微鏡 ,  炭素材料 ,  電気化学分析

分類 (4件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  電気分析一般  (CC05010C) ,  生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (4件)： ナノスケール ,  電気化学 ,  イメージング ,  走査型プローブ顕微鏡