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J-GLOBAL ID：201702229130999610   整理番号：17A0246827

国際宇宙ステーションGLIMSミッションにより観測された雷発光とホイスラを用いた電離層F層の電子密度推定

著者 (12件)： 鈴木克徳 (電通大 大学院情報理工学研究科) ,  柿沼遠方 (電通大 大学院情報理工学研究科) ,  芳原容英 (電通大 大学院情報理工学研究科) ,  LINSCOTT Ivan (スタンフォード大) ,  INAN Umran (スタンフォード大) ,  佐藤光輝 (北大 大学院理学院) ,  高橋幸弘 (北大 大学院理学院) ,  牛尾知雄 (大阪大 大学院工学研究科) ,  河崎善一郎 (大阪大 大学院工学研究科) ,  森本健志 (近畿大 理工) ,  山崎敦 (宇宙航空研究開発機構 宇宙科研) ,  鈴木睦 (宇宙航空研究開発機構 宇宙科研)
資料名： 日本地球惑星科学連合大会予稿集(Web)  (日本地球惑星科学連合大会(Web))
巻： 2015  ページ： ROMBUNNO.PEM11-12 (WEB ONLY)  発行年： 2015年 
JST資料番号： U0880A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 宇宙ステーション ,  雷 ,  *ホイスラ波 ,  *F層 ,  *電子密度 ,  分散度 ,  国際宇宙ステーション ,  飛翔体

分類 (1件)： VLF放射  (DC04070K)

タイトルに関連する用語 (9件)： 宇宙ステーション ,  ミッション ,  観測 ,  雷 ,  ホイスラ ,  電離層 ,  F層 ,  電子密度 ,  推定