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J-GLOBAL ID：201702236537476175   整理番号：17A0959558

原子間力顕微鏡による単原子の電気陰性度の決定

Electronegativity Determination of Single Atoms by Atomic Force Microscopy

著者 (7件)： 小野田穣 (東京大学大学院新領域創成科学研究科) ,  小野田穣 (大阪大学大学院工学研究科) ,  ONDRACEK Martin (Institute of Physics, Czech Academy of Sciences) ,  JELINEK Pavel (Institute of Physics, Czech Academy of Sciences) ,  JELINEK Pavel (Regional Centre of Advanced Technologies and Materials, Department of Physical Chemistry, Palacky University) ,  杉本宜昭 (東京大学大学院新領域創成科学研究科) ,  杉本宜昭 (大阪大学大学院工学研究科)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 38  号： 7  ページ： 341-346(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *顕微鏡観察 ,  原子間力顕微鏡 ,  *原子 ,  *電気陰性度 ,  化学結合 ,  ケイ素 ,  ゲルマニウム ,  スズ ,  アルミニウム ,  酸素 ,  二酸化ケイ素 ,  ケイ素化合物 ,  酸化物 ,  絶縁膜 ,  窒化物 ,  密度汎関数法 ,  結合エネルギー
準シソーラス用語： *原子間力顕微鏡法 ,  *単原子 ,  酸窒化ケイ素

著者キーワード (4件)： electronegativity ,  AFM ,  electronegativity ,  AFM

分類 (1件)： 原子の性質  (BH02020G)

引用文献 (23件)：

• 1) L. Pauling: “The Nature of the Chemical Bond” 3rd ed. (Cornell University Press, Ithaca, New York, 1960).
• 2) D.D. Wagman, W.H. Evans, I. Holow, V.B. Parker, S.M. Bailey, R.H. Schumm, I. Halow, S.M. Bailey, K.L. Churney and R.L. Nuttall: J. Phys. Chem. Ref. Data 11, Suppl. 2 (1982).
• 3) M.A. Lantz, H.J. Hug, R. Hoffmann, P.J.A. van Schendel, P. Kappenberger, S. Martin, A. Baratoff and H.-J. Güntherodt: Science 291, 2580 (2001).
• 4) Y. Sugimoto, P. Pou, M. Abe, P. Jelíek, R. Pérez, S. Morita and O. Custance: Nature 446, 64 (2007).
• 5) L. Gross, F. Mohn, N. Moll, P. Liljeroth and G. Meyer: Science 325, 1110 (2009).

タイトルに関連する用語 (3件)： 原子間力顕微鏡 ,  単原子 ,  電気陰性度