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J-GLOBAL ID:201702246910268959   整理番号:17A1544969

等温時効下での常圧Agナノ粒子焼結継手のせん断強度に及ぼすENIG欠陥の影響【Powered by NICT】

Influence of ENIG defects on shear strength of pressureless Ag nanoparticle sintered joint under isothermal aging
著者 (2件):
資料名:
巻: 76-77  ページ: 420-425  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Agナノ粒子焼結は高温エレクトロニクスに使用するための有望なダイアタッチ法であり,従来の高Pb含有はんだの代替できる可能性がある。無電解Ni/浸漬Au(ENIG)はんだ,ワイヤボンディング,およびAgナノ粒子焼結のための一般的な表面仕上げである。しかし,Agナノ粒子焼結継手の剪断強度および接合品質に及ぼすENIG欠陥の影響に関する報告はない。本研究では,ENIG欠陥の存在と二種類のENIG表面仕上げCu基板(ENIG欠陥と欠陥のない)を用いて結合と等温時効試験後,Agナノ粒子焼結継手のせん断強さの関係を調べた。Ag焼結継手の初期せん断強度はENIG欠陥の存在にもかかわらず約36MPaの類似した値を示した。しかし,ENIG欠陥は250°Cでの熱エージング後のAg焼結継手のせん断強度低下に影響する可能性があるこの劣化はENIG欠陥の存在とそれに続く脆性破壊関節単独のNi酸化からNi酸化層であった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  固体デバイス製造技術一般 

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