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J-GLOBAL ID:201702247228688608   整理番号:17A0032874

走査型透過X線顕微鏡(STXM)が拓くサイエンス 走査型透過X線顕微鏡を用いて環境試料中の有機物を調べることの重要性

Importance of characterization of organic matter in environmental samples using scanning transmission X-ray microscopy
著者 (3件):
資料名:
巻: 29  号:ページ: 294-302  発行年: 2016年11月30日 
JST資料番号: L0956A  ISSN: 0914-9287  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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フレネルゾーンプレート(Fresnel Zone Plate;FZP)による集光系を備えた走査型透過X線顕微鏡(STXM)は,30nm程度の空間分解能で多種の元素の化学種解析を行うことができる。特に軟X線領域に吸収端がある炭素,窒素,酸素などの官能基別のマッピングが可能な点は,他の手法にはない特徴である。一方,有機物は環境中に普遍的に見出される物質であるため,STXMは環境化学・地球化学分野において不可欠な手法になりつつある。本稿では,このようなSTXMを用いた環境化学の研究の例を2つ示した。最初の例では,有用金属元素を多量に含む硫化鉄を微生物で効率的に溶解できる機構の解明にSTXMを適用した。その結果,微生物が分泌する酸性多糖類と鉄の錯生成が,硫化鉄の溶解を促進することが明らかになった。2つ目の例では,放射性セシウムの水圏での水-懸濁粒子間の分配に与える有機物の影響をSTXMで調べた。その結果,環境水中の懸濁粒子を腐植物質が被覆することで,放射性セシウムが溶存態として存在し易くなることが示された。これらの研究例から,STXMを利用した有機物の官能基マッピングは,環境中の物質循環における化学的素過程を解明する上で重要な役割を果たすことがお分かり頂けるであろう。(著者抄録)
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有機化合物・錯体のX線スペクトル 
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