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J-GLOBAL ID：201702249379879642   整理番号：17A1363322

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップセンサーの性能評価および品質保証システムの開発

著者 (45件)： 伊藤拓実 (九大 理) ,  池田博一 (Open-It) ,  池田博一 (JAXA) ,  池野正弘 (Open-It) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  上野一樹 (Open-It) ,  上野一樹 (KEK 素核研) ,  内田智久 (Open-It) ,  内田智久 (KEK 素核研) ,  川越清以 (九大 理) ,  岸下徹一 (KEK 素核研) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (Open-It) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  佐藤優太郎 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  調翔平 (九大 理) ,  調翔平 (Open-It) ,  末原大幹 (九大 理) ,  末原大幹 (Open-It) ,  千代浩司 (Open-It) ,  千代浩司 (KEK 素核研) ,  田中真伸 (Open-It) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  堤裕樹 (九大 理) ,  東城順治 (九大 理) ,  東城順治 (Open-It) ,  西村昇一郎 (九大 理) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  真玉将豊 (九大 理) ,  真玉将豊 (Open-It) ,  三部勉 (Open-It) ,  三部勉 (KEK 素核研) ,  村上武 (Open-It) ,  村上武 (KEK 素核研) ,  安田浩昌 (Open-It) ,  安田浩昌 (東大 理) ,  山中隆志 (九大 RCAPP) ,  吉岡瑞樹 (Open-It) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 2  ページ： ROMBUNNO.12pS36-6  発行年： 2017年09月25日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 粒子飛跡 ,  *固体飛跡検出器 ,  *Si半導体検出器 ,  性能評価 ,  品質保証 ,  品質検査 ,  磁気モーメント ,  μ粒子 ,  双極子モーメント ,  電気モーメント ,  g因子 ,  電気双極子モーメント ,  *放射線検出器
準シソーラス用語： 異常磁気モーメント

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験技術一般  (BE01010F)

タイトルに関連する用語 (6件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  性能評価 ,  品質保証 ,  開発