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J-GLOBAL ID：201702252115670413   整理番号：17A0511228

Tl₂O₃とSiO₂からのタリウムシリケートガラスの合成とその電気特性

Synthesis of thallium silicate glasses from Tl₂O₃ and SiO₂ and their electrical properties

著者 (2件)： NAKAYAMA Susumu (Department of Applied Chemistry and Biotechnology, National Institute of Technology, Niihama College) ,  ASAHI Taro (Department of Environmental Materials Engineering, National Institute of Technology, Niihama College)
資料名： Journal of the Ceramic Society of Japan (Web)  (Journal of the Ceramic Society of Japan (Web))
巻： 124  号： 11  ページ： 1188-1190(J-STAGE)  発行年： 2016年 
JST資料番号： U0409A  ISSN： 1348-6535  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Tl₂O₃とSiO₂の混合物を溶融することによって,バッチ組成(Tl₂O₃)_x(SiO₂)_1-x(x=0.20~0.40)を有するガラスを合成し,それらの電気的特性を調べた。タリウムシリケートガラスのTlは一価および三価の状態で存在することを確認した。(Tl₂O₃)_x(SiO₂)_1-xガラスの電気伝導率は,x=0.20~0.40の範囲のx値の増加とともに増加した。分析された組成:(Tl¹⁺₂O)_0.332(Tl³⁺₂O₃)_0.061(SiO₂)_0.607]のバッチ組成を有するガラスの導電率は,5.0×10^-6,2.4×10^-5,9.6×10^-5S/cmであった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *二酸化ケイ素 ,  *酸化タリウム ,  *ガラス ,  原子価 ,  X線回折分析 ,  化学組成 ,  X線光電子分光法 ,  *電気的性質 ,  電気伝導率 ,  *イオン伝導
準シソーラス用語： *タリウムシリケートガラス ,  導電率

著者キーワード (4件)： X-ray photoelectron spectroscopy ,  Chemical analysis ,  X-ray diffraction ,  Ionic conduction

分類 (2件)： ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z) ,  固体中の拡散一般  (BL06021L)

引用文献 (15件)：

• 1) R. D. Shannon, B. E. Taylor, T. E. Gier, H. Y. Chen and T. Berzins, Inorg. Chem., 17, 958–964 (1978).
• 2) T. Asahi, Y. L. Aung, M. Saito, S. Imai, M. Sakamoto and S. Nakayama, J. Ceram. Soc. Japan, 110, 200–203 (2002).
• 3) S. Nakayama, T. Asahi, Y. L. Aung, R. Ohhara and M. Sakamoto, J. Ceram. Soc. Japan, 112, 238–241 (2004).
• 4) S. Nakayama, T. Asahi, H. Kiyono, Y. L. Aung and M. Sakamoto, J. Eur. Ceram. Soc., 26, 1605–1610 (2006).
• 5) H. Kiyono, K. Maruoka, T. Asahi and S. Nakayama, Ceram. Int., 41, 10018–10023 (2015).

タイトルに関連する用語 (4件)： SiO2 ,  タリウム ,  シリケートガラス ,  電気特性