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J-GLOBAL ID：201702253313877413   整理番号：17A0687720

X線光子相関分光測定によるソフト界面ダイナミクス研究

Dynamical studies of soft interfaces using X-ray photon correlation spectroscopy

著者 (6件)： 星野大樹 (理研 放射光科学総合研究セ) ,  星野大樹 (JST-さきがけ) ,  平井智康 (九大 先導物質化研) ,  高原淳 (九大 先導物質化研) ,  高田昌樹 (理研 放射光科学総合研究セ) ,  高田昌樹 (東北大 多元物質科研)
資料名： 放射光  (日本放射光学会誌)
巻： 30  号： 3  ページ： 136-144  発行年： 2017年05月31日 
JST資料番号： L0956A  ISSN： 0914-9287  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線光子相関分光法(XPCS)は,コヒーレントX線散乱を用いた実時間ドメインのダイナミクス測定手法である。全反射臨界角度に近い微小角入射配置をとることで試料最表面のダイナミクスを選択的に測定可能であることから,バルクとは異なる表面の揺らぎを散乱ベクトル依存で評価することが可能である。本稿では,最近我々が実施した微小角入射XPCSによる高分子薄膜表面ダイナミクスの研究を中心に紹介する。高分子鎖末端の修飾により膜の崩壊(dewetting)が抑制された薄膜では,バルク粘度に差がないにも関わらず非修飾の高分子に比べて表面揺らぎが遅くなっていることを見出し,膜構造との関連について定量的な議論を行った。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線分光法 ,  *光子相関分光法 ,  X線 ,  X線散乱 ,  すれすれ入射 ,  *高分子薄膜 ,  高分子鎖 ,  粘度 ,  膜構造 ,  軟質材料 ,  *ポリスチレン ,  オリゴマ ,  ポリシルセスキオキサン ,  高分子有機-無機ハイブリッド ,  界面張力 ,  ゆらぎ
準シソーラス用語： *X線光子相関分光法 ,  コヒーレントX線 ,  微小角入射 ,  ディウェッティング ,  ソフトマテリアル ,  ポリヘドラルオリゴメリックシルスセスキオキサン ,  表面張力

分類 (1件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

引用文献 (29件)：

• B. J. Berne and R. Pecora: Dynamic light scattering: with applications to chemistry, biology and physics (Wiley, New York, 1976).
• M. Sutton: Comptes Rendus Physique 9, 657 (2008).
• M. Tolan, T. Seydel, A. Madsen, G. Grübel, W. Press and S. K. Sinha: Appl Surf Sci 182, 236 (2001).
• T. Seydel, A. Madsen, M. Tolan, G. Grübel and W. Press: Phys Rev B 63, 073409 (2001).
• S. K. Sinha, Z. Jiang and L. B. Lurio: Adv Mater 26, 7764 (2014).

タイトルに関連する用語 (6件)： X線 ,  光子相関分光 ,  ソフト ,  界面 ,  ダイナミクス ,  研究