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J-GLOBAL ID:201702257049408122   整理番号:17A0330489

キシレンのRFプラズマのOESおよびGC/MS研究

OES and GC/MS Study of RF Plasma of Xylenes
著者 (2件):
資料名:
巻: 37  号:ページ: 149-158  発行年: 2017年01月 
JST資料番号: H0836A  ISSN: 0272-4324  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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キシレン異性体の高周波放電を,発光分析(OES)によってモニターした。高周波プラズマにおけるキシレンの光化学的挙動を観察した。キシレンプラズマの反応生成物を,ガスクロマトグラフィー/質量分析(GC/MS)によって分析した。反応生成物の主要成分は,使用したキシレン異性体のタイプと関係無く,1,2-ジ-トリルエタン(DPTE)であった。o-およびm-キシリルラジカルは再配列を受け,p-キシリルラジカルに転化した。ベンゼンおよびトルエンプラズマのケースと同様に,二つのp-キシリルラジカル間の再結合が,DPTE生成の原因であると信じられた。密度汎関数法から,キシレンエキシマのDPTEへの転化は有りそうも無いことが示唆された。
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分類 (2件):
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プラズマ応用  ,  無触媒気相反応 
物質索引 (4件):
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