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J-GLOBAL ID：201702273250019206   整理番号：17A1811211

走査非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電分域スイッチングの直接観察

Dynamic observation of ferroelectric domain switching using scanning nonlinear dielectric microscopy

著者 (5件)： HIRANAGA Yoshiomi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MIMURA Takanori (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  SHIMIZU Takao (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  FUNAKUBO Hiroshi (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  CHO Yasuo (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 56  号： 10S  ページ： 10PF16.1-10PF16.7  発行年： 2017年10月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  *強誘電分域 ,  *分極反転 ,  *タリウム化合物 ,  *電圧 ,  *酸化ハフニウム ,  *ピン止め ,  *リチウム化合物 ,  *酸化物
準シソーラス用語： *走査型非線形誘電率顕微鏡 ,  *バイアス電圧 ,  *強誘電ナノ領域

分類 (2件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査 ,  非線形 ,  誘電率 ,  顕微鏡 ,  強誘電分域 ,  スイッチング