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J-GLOBAL ID：201702274190500227   整理番号：17A0432206

FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察

Considerations on Characteristics of Ring Oscillators Implemented in FPGA

著者 (2件)： 佐藤晃平 (首都大学東京 大学院システムデザイン研究科) ,  三浦幸也 (首都大学東京 システムデザイン)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116  号： 466(DC2016 74-83)  ページ： 45-52  発行年： 2017年02月14日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： FPGA(Field Programmable Gate Array)とは任意の論理機能を何度も書き換えて実装することができる集積回路である。近年,半導体の微細化に伴って,LSIと同様にFPGAチップの製造ばらつきやトランジスタの劣化による回路動作への影響が問題になってきている。FPGAを用いて,信頼性の高いディジタルシステムを実現するためには,製造ばらつきや劣化の影響を考慮する必要がある。FPGAの劣化対策や,劣化量を推定するためには,FPGAチップの初期状態の特性ばらつきを評価することが重要となる。LSIにおいて,リングオシレータ(RO:Ring Oscillator)を用いたチップ内部の製造ばらつきの測定手法が提案されている。本研究では,FPGAの劣化対策や劣化量推定の実現に向けて,ROをFPGA上に実装し,発振周波数の測定を行うことで,FPGAチップの特性ばらつきを評価し,また,ばらつき測定回路の精度も評価した。(著者抄録)

シソーラス用語： *FPGA ,  *リング発振器 ,  *分散【variance】 ,  周波数特性 ,  計測器 ,  劣化 ,  *周波数測定 ,  ルックアップテーブル ,  論理演算 ,  ハードウェア記述言語 ,  遅延特性 ,  半導体チップ ,  製造ばらつき ,  発振周波数 ,  NAND
準シソーラス用語： リングオシレータ ,  測定回路 ,  配線遅延

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

引用文献 (13件)：

• T. Nigam, K-Y. Yiang, and A, Marathe, ′′Moore's Law: Technology Scaling and Reliability Challenges, Microelectronics to Nanoelectronics: Materials, Devices & Manufacturability, ′′CRC, pp.1-28,2012.
• 三宅庸資,津森渉,佐藤康夫,梶原誠司,三浦幸也,′′モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法,′′信学技報, DC2012-89, vol.112, no.429, pp.55-60, February 2013.
• 池田龍史,三浦幸也,′′リング発信器を用いたLSIの劣化推定法,′′ 信学技報,DC2014-11, vol.114, no.99, pp.7-14, June 2014.
• 佐藤康夫,三宅庸資,梶原誠司,′′FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討,′′信学技報,DC2014-67, vol.114, no.384, pp.1-6, December 2014.
• 三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司,′′FPGAのリングオシレータを利用した温度モニタ,′′信学技報, DC2014-68, vol.114, no.384, pp.7-12, December 2014.

タイトルに関連する用語 (3件)： FPGA ,  実装 ,  リングオシレータ