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J-GLOBAL ID:201702286154547555   整理番号:17A1220849

プラズマ増強化学気相成長によるSi基板上の窒素ドープダイヤモンド状カーボン膜の構造,電気特性,および電流-電圧特性

Structural and electrical properties and current-voltage characteristics of nitrogen-doped diamond-like carbon films on Si substrates by plasma-enhanced chemical vapor deposition
著者 (12件):
資料名:
巻: 55  号:ページ: 065502.1-065502.6  発行年: 2016年06月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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著者等は,CH4,N2,およびArを用いたプラズマ増強化学気相成長により,窒素ドープダイヤモンド状カーボン(N-DLC)膜を堆積し,N-DLC膜の構造特性,電気的特性,機械的特性,および光学的特性に及ぼすNドーピングの影響を調べた。未ドープDLC/p-SiおよびN-DLC/p-Siヘテロ接合を作製し,ヘテロ接合の電流-電圧特性を調べた。N2の流量比を0から3.64%に増加した場合,抵抗率は,105Ω・cmから10-2Ω・cmの桁まで著しく減少し,内部応力も減少した。3.64%から13.6%までのN2流量比の増加に従い,抵抗率は,徐々に増加し,その後,13.6%のN2流量比で減少した。これらの挙動は,sp2炭素のクラスタ化およびsp3C-N,sp2C=N,sp1C≡N,およびC-Hn結合の形成に関して説明することができる。3.64%で形成したN-DLC膜を用いたヘテロ接合の整流比は,±0.5Vで35.8であった。(翻訳著者抄録)
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分類 (4件):
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半導体薄膜  ,  非金属元素とその化合物の結晶構造  ,  半導体と絶縁体の電気伝導一般  ,  光物性一般 

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