特許
J-GLOBAL ID：201703000076404206

測定装置及びその制御方法、プログラム

発明者：
太田 和之

太田 和之 について

, 
吉川 博志

吉川 博志 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-238357
公開番号（公開出願番号）：特開2014-089081
特許番号：特許第6061616号
出願日： 2012年10月29日
公開日（公表日）： 2014年05月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 測定対象物までの距離を測定するための明部領域と暗部領域とを含む投影パターンのうち、少なくとも明部領域を一部に含む領域を、外乱光を推定するための光が投影されない暗領域として設定する設定手段と、 前記暗領域が設定された投影パターンが投影された測定対象物の画像を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段で撮像された画像における前記設定手段で設定された暗領域に対応する領域から、前記測定対象物に投影された外乱光を推定する推定手段と、 前記推定手段で推定された外乱光と前記撮像手段で撮像された画像とに基づいて、前記測定対象物までの距離を測定する距離測定手段と、 を有することを特徴とする測定装置。
IPC (1件)：
G01B 11/25 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01B 11/25 H
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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