特許
J-GLOBAL ID：201703003192537891
メカトロニクスシステムをテストする方法およびシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
アインゼル・フェリックス=ラインハルト
, 前川 純一
, 二宮 浩康
, 上島 類
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-082297
公開番号（公開出願番号）：特開2016-207211
出願日： 2016年04月15日
公開日（公表日）： 2016年12月08日
要約：
【課題】メカトロニクスシステムのテストにおいて、できるかぎり大きい連続的な進捗が達成されるような手段を提供する。【解決手段】テストケースとテストコンフィギュレーションの各組み合わせに対し、対応するテストにおけるメカトロニクスシステムの機能の評価に従い規定されたテストステータス値のグループから、1つのテストステータス値を割り当てる。テストシーケンスをさらにプラニング、実行および/または評価するために、少なくとも1回、生成されたテストケースとコンフィギュレーションのマトリックスにおける複数のステータス値のうち、少なくとも1つのステータス値の相対的テストカバレッジ、および/または、1つのテストケースおよび/または1つのコンフィギュレーションに関して、複数のステータス値のうち少なくとも1つのステータス値のテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャル、を求める。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
リアルおよび/またはバーチャルなメカトロニクス自動車システム(18)、または他のリアルおよび/またはバーチャルなメカトロニクスシステム(12)を、前記リアルおよび/またはバーチャルなメカトロニクスシステム(12,18)と相互作用するテスト環境(16)を用いたテストによってテストするための、コンピュータにより実装される方法であって、
当該方法は、それぞれ異なる実施条件におけるテストの種々のテストケース(TC1,TC2)を有するテストシーケンスを含み、
前記実施条件は、テストコンフィギュレーション(Conf1,Conf2)に規定されており、
テストケース(TC1,TC2)とテストコンフィギュレーション(Conf1,Conf2)の各組み合わせに対し、対応するテストにおける前記メカトロニクスシステム(12,18)の機能の評価に従い、予め定義された複数のテストステータス値(+,-,o)のグループから、1つのテストステータス値を割り当て、
前記テストシーケンスをさらにプラニング、実行および/または評価するために、少なくとも1回、
・生成されたテストケースとコンフィギュレーションのマトリックス(TC1,TC2;Conf1,Conf2)における複数のステータス値(+,-,o)のうち、少なくとも1つのステータス値の相対的テストカバレッジ、
および/または、
・1つのテストケース(TC1,TC2)および/または1つのコンフィギュレーション(Conf1,Conf2)に関して、複数のステータス値(+,-,o)のうち少なくとも1つのステータス値のテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャル、
を求める、
コンピュータにより実装される方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
5B042GB08
, 5B042HH18
, 5B042HH49
