特許

J-GLOBAL ID：201703006620157283

化学状態測定方法

発明者： 金子 房恵 ,  岸本 浩通
出願人/特許権者： 住友ゴム工業株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-163877
公開番号（公開出願番号）：特開2017-040618
出願日： 2015年08月21日
公開日（公表日）： 2017年02月23日
要約：

【課題】硫黄含有化合物を用いて架橋した部分の硫黄ゴムをはじめとする硫黄含有高分子複合材料中の硫黄架橋構造を制御するための情報を高精度に得ることが可能な化学状態測定方法を提供する。【解決手段】硫黄含有高分子複合材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程と、硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する除去工程とを含む化学状態測定方法。【選択図】なし

請求項（抜粋）：

硫黄含有高分子複合材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程と、 硫黄含有高分子複合材料のX線吸収スペクトルから硫黄酸化物の成分を除去する除去工程とを含む化学状態測定方法。

IPC (2件)：

G01N 23/06 ,  G01N 23/083

FI (2件)：

G01N23/06 310 ,  G01N23/083

Fターム (5件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001KA01 ,  2G001LA05

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 化学状態測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2013-119929   出願人：住友ゴム工業株式会社
• 高分子材料解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2014-001831   出願人：住友ゴム工業株式会社
• X線分析方法及びX線分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2014-019699   出願人：富士通株式会社