特許
J-GLOBAL ID:201703008106741432

ε-Ga2O3単結晶、ε-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-121248
公開番号(公開出願番号):特開2017-007871
出願日: 2015年06月16日
公開日(公表日): 2017年01月12日
要約:
【課題】 半導体素子に適用可能なε-Ga2O3単結晶、ε-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子を提供すること。【解決手段】 本発明によるε-Ga2O3単結晶は、カーボン濃度が5×1018cm-3以下に制御されている。本発明によるε-Ga2O3を製造する方法は、ハライド気相成長法により基板上にε-Ga2O3を成長するステップを包含する。基板は、空間群P63mcを有する単結晶基板またはβ-Ga2O3からなる単結晶基板である。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
カーボン濃度は、5×1018cm-3以下である、ε-Ga2O3単結晶。
IPC (4件):
C30B 29/16 ,  C30B 25/20 ,  H01L 33/26 ,  H01L 31/108
FI (4件):
C30B29/16 ,  C30B25/20 ,  H01L33/00 180 ,  H01L31/10 C
Fターム (35件):
4G077AA02 ,  4G077AA03 ,  4G077AB01 ,  4G077AB10 ,  4G077BB07 ,  4G077BB10 ,  4G077BE13 ,  4G077DB05 ,  4G077EA01 ,  4G077EA06 ,  4G077EA07 ,  4G077EB06 ,  4G077EC09 ,  4G077ED05 ,  4G077HA06 ,  4G077HA12 ,  4G077TA04 ,  4G077TA07 ,  4G077TB04 ,  4G077TC01 ,  4G077TC03 ,  4G077TC05 ,  4G077TK01 ,  4G077TK06 ,  5F241AA03 ,  5F241AA42 ,  5F241CA05 ,  5F241CA23 ,  5F241CA40 ,  5F241CA64 ,  5F849AA05 ,  5F849AB01 ,  5F849LA03 ,  5F849XB13 ,  5F849XB39
引用特許:
審査官引用 (3件)
引用文献:
審査官引用 (2件)

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