特許
J-GLOBAL ID：201703009074060884
解析方法および解析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
森下 賢樹
, 村田 雄祐
, 三木 友由
, 富所 輝観夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-208721
公開番号（公開出願番号）：特開2014-063388
特許番号：特許第6053418号
出願日： 2012年09月21日
公開日（公表日）： 2014年04月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 仮想空間に定義される粒子系を解析する解析方法であって、
当該解析方法は、解析装置において実行され、
前記解析装置が、粒子系に含まれる2つの粒子の間の面積を、2つの粒子の間の距離のみを引数とする関数に基づいて決定するステップと、
前記解析装置が、決定された面積を使用して粒子系の状態を更新するステップと、を含むことを特徴とする解析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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