特許
J-GLOBAL ID:201703011332599429

検眼装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 憲司
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-278973
公開番号(公開出願番号):特開2013-150792
特許番号:特許第6218376号
出願日: 2012年12月21日
公開日(公表日): 2013年08月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 被験者(106)の眼(112a、112b)の一部融像除去斜位を検査する検眼装置(102)であって、 光ビーム経路(122)で前記被験者(106)の前記眼(112a、112b)に対して表示され得るテストパターンを生成する表示ユニット(114)を有する、画像生成装置(108)を有し、 前記表示ユニット(114)のうち前記光ビーム経路(122)において前記被験者の前記眼(112a、112b)に面する側に、光学アセンブリ(124)が配置され、該光学アセンブリ(124)は、前記表示ユニット(114)の第1群(128)の選択区域(130a、130b、130c)からの光を前記被験者(106)の左眼(112a)に供給すると共に、前記表示ユニットの第2群(132)の選択区域(134a、134b、134c)からの光を前記被験者(106)の右眼(112b)へ誘導するために、前記表示ユニット(114)の前記第1群(128)の前記選択区域(130a、130b、130c)によって前記光ビーム経路(122)に供給される光を、前記第2群(132)の前記表示ユニット(114)の前記選択区域(134a、134b、134c)によって前記ビーム経路(122)に供給される光から分離する、検眼装置(102)において、 前記光学アセンブリ(124)は、複数のプリズム部(127)を有するプリズムマトリックス(125)を備え、前記複数のプリズム部(127)は、鉛直方向(139)に延び、それぞれが前記表示ユニット(114)に面した凸面を有するレンズ形の領域(129)を有し、 さらに、前記プリズムマトリックス(125)は、前記表示ユニット(114)の前記第1群(128)の前記選択区域(130a、130b、130c)からの前記光を、前記被験者(106)の前記左眼(112a)へ指向させ、かつ、前記表示ユニット(114)の前記第2群(132)の前記選択区域(134a、134b、134c)からの前記光を、前記被験者(106)の前記右眼(112b)へ指向させ、かつ、前記レンズ形の領域(129)は、特定の許容範囲内に位置する前記被験者(106)に対して前記テストパターンを表示するように構成されることを特徴とする検眼装置。
IPC (1件):
A61B 3/08 ( 200 6.01)
FI (1件):
A61B 3/08 ZDM
引用特許:
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (12件)
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