特許
J-GLOBAL ID：201703011442653461
計測装置
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人エム・アイ・ピー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-099008
公開番号（公開出願番号）：特開2016-217722
出願日： 2015年05月14日
公開日（公表日）： 2016年12月22日
要約：
【課題】流体の内外に存在する物体の形状と当該流体の流速分布を同時的に計測する。【解決手段】本発明によれば、複数の振動子を含むリニアアレイセンサーと、順次異なる位置の振動子からパルス超音波を発信させるとともに、該パルス超音波のエコー信号を各振動子を介して検出するパルサ・レシーバと、2以上の振動子を介して検出されたエコー信号に基づいて開口合成処理を行うことにより前記パルス超音波を反射する物体の表面形状を計測する物体形状計測手段と、所定以上の距離をおいて離間する第1の振動子および第2の振動子を介して検出されたエコー信号のドップラー周波数を検出し、検出した2つのドップラー周波数に基づいて流速ベクトルを計測する流速ベクトル計測手段とを含む、計測装置が提供される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
流体の内外に存在する物体の形状と該流体の流速分布を計測するための計測装置であって、
複数の振動子が列をなして配置されたアレイセンサーと、
前記複数の振動子の駆動を制御して順次異なる位置の振動子からパルス超音波を発信させるとともに、該パルス超音波のエコー信号を各振動子を介して検出するパルサ・レシーバと、
2以上の振動子を介して検出されたエコー信号に基づいて開口合成処理を行うことにより前記パルス超音波を反射する物体の表面形状を計測する物体形状計測手段と、
所定以上の距離をおいて離間する第1の振動子および第2の振動子を介して検出されたエコー信号のドップラー周波数を検出し、検出した2つのドップラー周波数に基づいて流速ベクトルを計測する流速ベクトル計測手段とを含み、
前記流速ベクトル計測手段は、
検出した2つの前記ドップラー周波数と、
前記パルス超音波の反射位置と該パルス超音波を発信する前記振動子の中心を結ぶ方向の単位ベクトルと、
前記パルス超音波の反射位置と前記第1の振動子の中心を結ぶ方向の単位ベクトルである第1のベクトルと、
前記パルス超音波の反射位置と前記第2の振動子の中心を結ぶ方向の単位ベクトルである第2の単位ベクトルと、
に基づいて流速ベクトルを算出する、
計測装置。
IPC (5件)：
G01P 13/00
, G01P 5/24
, G01F 1/66
, G01S 15/89
, G01S 15/58
G01P13/00 E
, G01P5/24 A
, G01F1/66 103
, G01F1/66 B
, G01S15/89 A
, G01S15/58
2F034AA03
, 2F034AB03
, 2F034DA10
, 2F034DB10
, 2F035AA01
, 2F035DA13
, 5J083AA02
, 5J083AC29
, 5J083AC40
, 5J083AD13
, 5J083AE06
, 5J083BA01
, 5J083BB07
, 5J083BD03
, 5J083CA12
, 5J083CA13
, 5J083DC02
, 5J083EB04
