特許
J-GLOBAL ID：201703012234595780
岩盤評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人磯野国際特許商標事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-088908
公開番号（公開出願番号）：特開2017-197955
出願日： 2016年04月27日
公開日（公表日）： 2017年11月02日
要約：
【課題】定量的かつ高精度に岩盤の評価をすることができる岩盤評価方法を提案する。【解決手段】対象地盤から採取した試料から物性値を取得する物性値取得作業S11と、物性値に基づいて岩盤評価管理基準値を設定するとともに当該岩盤評価管理基準値に相関する色彩値または帯磁率である管理基準物性値を設定する基準値設定作業S13と、対象地盤を穿孔するとともに、穿孔深度毎に穿孔岩屑の色彩値および帯磁率を測定する測定作業S22と、穿孔岩屑の色彩値または帯磁率の測定値と管理基準物性値とを比較して穿孔深度毎の岩盤を評価する岩盤評価作業S23とを備える岩盤評価方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
岩盤の穿孔に伴い発生した穿孔岩屑の色彩値または帯磁率を測定し、前記色彩値または帯磁率の測定値に基づいて、前記岩盤を評価することを特徴とする、岩盤評価方法。
IPC (4件)：
E21D 9/14
, E02D 1/00
, E21B 49/02
, G01N 33/24
E21D9/14
, E02D1/00
, E21B49/02
, G01N33/24 C
