特許
J-GLOBAL ID：201703021072725196
光量測定装置及び光量測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人 エビス国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-527933
特許番号：特許第6118801号
出願日： 2012年08月03日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 放射状に光を発光する発光ダイオードチップを載置するテーブルと、
前記発光ダイオードチップに電力を供給して該発光ダイオードチップを発光させるためのプローブと、
前記発光ダイオードチップから発光された光を受光し、その光量を測定する受光部と、
前記発光ダイオードチップを前記テーブルに移載する移載手段と、
を備え、
前記テーブルは、前記発光ダイオードチップが直接載置される反射平面を具備する反射板を有し、
前記反射板は、前記テーブルに交換可能に載置され、
前記反射板の前記反射平面は、前記発光ダイオードチップが実装される被実装物と同一又は略同等の反射率特性を有し、
前記発光ダイオードチップは、第1のダイシングシート上に複数配置されており、
前記移載手段は、複数の前記発光ダイオードチップを、隣接する発光ダイオードチップからの配光強度分布への影響が生じない程度の間隔をあけて、前記第1のダイシングシート上から前記反射板の前記反射平面上に移載する
発光ダイオードチップの光量測定装置。
IPC (3件)：
G01M 11/00 ( 200 6.01)
, G01J 1/00 ( 200 6.01)
, H01L 33/00 ( 201 0.01)
G01M 11/00 T
, G01J 1/00 C
, G01J 1/00 E
, H01L 33/00 K
