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J-GLOBAL ID：201802226940791623   整理番号：18A0750679

導波管貫通法による誘電体角柱試料の複素比誘電率測定

著者 (3件)： 西方敦博 (東京工大) ,  森研太朗 (東京工大 大学院理工学研究科) ,  森研太朗 (富士通)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 C(Web)
巻： J101-C  号： 1  ページ： 26-35 (WEB ONLY)  発行年： 2018年01月01日 
JST資料番号： U0472A  ISSN： 1881-0217  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 導波管貫通法による誘電体角柱試料の複素比誘電率ε_rの測定法を提案した。長方形断面をもつ角柱試料を,導波管貫通法の解析モデルに合わせて軸対称多層円筒構造でモデル化し,18~26.5GHzでの測定からε_rの推定を行った。その結果を円柱試料の測定結果と比較することで,測定値の妥当性を確認するとともに,試料が軸対称でないことからくる試料挿入角の影響を示すとともに,それを平均化によって取り除く方法を含む,角柱試料のε_rの測定法を提案した。(著者抄録)

シソーラス用語： *誘電体 ,  *角柱 ,  *複素誘電率 ,  *計測 ,  軸対称性 ,  多層構造 ,  円筒 ,  解析モデル
準シソーラス用語： *導波管貫通法 ,  *複素比誘電率 ,  *誘電率測定

分類 (1件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

引用文献 (10件)：

• 橋本修,高周波領域における材料定数測定法,森北出版, 2003.
• A. Nishikata, “A swept-frequency measurement of complex perimittivity and complex permeability of a columnar specimen inserted in a rectangular waveguide,” IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol.55, no.7, pp.1554-1567, 2007.
• A. Nishikata, “Scattering analysis for layered cylindrical object perpendicularly piercing the wider walls of a rectangular waveguide and its application to εr and μr measurement,” IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol.57, no.6, pp.1602-1611, 2009.
• A. Kik and A. Nishikata, “Analysis of errors in permittivity measurements using the waveguidepenetration method,” IEICE Trans. Commun., vol.E93-B, no.7, pp.1697-1706, July 2010.
• A. Kik and A. Nishikata, “A new calibration algorithm using reference materials for the waveguidepenetration method,” IEICE Trans. Commun., vol.E94-B, no.9, pp.2549-2557, Sept. 2011.

タイトルに関連する用語 (5件)： 導波管 ,  誘電体 ,  角柱 ,  試料 ,  複素比誘電率