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J-GLOBAL ID：201802239802253327   整理番号：18A1795877

ラウンド加算DFAによるFeistel型ブロック暗号における鍵導出法

著者 (1件)： 吉川英機 (東北学院大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D(Web)
巻： J101-D  号： 7  ページ： 1027-1036 (WEB ONLY)  発行年： 2018年07月01日 
JST資料番号： U0473A  ISSN： 1881-0225  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 暗号システムのサイドチャネル攻撃の一つである差分故障解析(DFA)において,外部から異常電圧や異常クロックを印加して命令スキップを生じさせて得られた異常暗号文と,正常暗号文とを比較することにより秘密鍵を導出する方法が知られている。本論文では,Feistel型ブロック暗号アルゴリズムがどのような構造であればラウンド加算DFAによる攻撃が有効になるのかを検討した結果を示している。まず,ラウンド加算DFAの概要を述べ,データ暗号化規格(DES),及び同様のFeistel型暗号アルゴリズムに対して,ラウンド加算DFAを適用した場合に正常暗号文と異常暗号文の一つのペアにより,秘密鍵が導出できることを示す。次に,変形Feistel型の構造をもつ軽量暗号LBlock,及び,同様の構造の暗号アルゴリズムへの応用を示し,ラウンド加算DFAが有効となる構造についての考察を行う。更に,ホワイトニング処理を有する暗号アルゴリズムへの適用を試み,秘密鍵が導出できる場合について示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *故障解析 ,  コンピュータセキュリティ ,  *行為 ,  マルウェア ,  暗号装置 ,  アルゴリズム ,  *暗号 ,  規格 ,  *暗号鍵 ,  加算 ,  *サイバー攻撃 ,  暗号アルゴリズム
準シソーラス用語： *差分故障解析 ,  *サイドチャネル攻撃 ,  *Feistel型暗号 ,  軽量暗号 ,  データ暗号化規格 ,  *秘密鍵 ,  ラウンド加算

分類 (2件)： データ保護  (JD01020V) ,  符号理論  (ND02030R)

引用文献 (24件)：

• E. Biham and A. Shamir, “Differential fault analysis of secret key cryptosystems,” Proc. CRYPTO’97, LNCS 1294, pp.513-525, 1997.
• H. Choukri and M. Tunstall, “Round reduction using faults,” Proc. FDTC, pp.13-24, 2005.
• J. Park, S. Moon, D. Choi, Y. Kang, and J. Ha, “Differential fault analysis for round-reduced AES by fault injection,” ETRI J., vol.33, no.3, pp.434-442, 2011.
• M. Kaminaga, A. Shikoda, and H. Yoshikawa, “Development and evaluation of a microstep DFA vulnerability estimation method,” IEICE Electronics Express, vol.8, no.22, pp.1899-1904, 2011.
• H. Yoshikawa, M. Kaminaga, and A. Shikoda, “Round addition using faults for generalized feistel network,” IEICE Trans. Inf. & Syst. vol.E96-D, no.1, pp.146-150, Jan. 2013.

タイトルに関連する用語 (5件)： 加算 ,  DFA ,  ブロック暗号 ,  鍵 ,  導出