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J-GLOBAL ID：201802247092365427   整理番号：18A0695608

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップ検出器用読み出しASICの性能評価

著者 (51件)： 堤裕樹 (九大 理) ,  堤裕樹 (Open-It) ,  池田博一 (JAXA) ,  池田博一 (Open-It) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  池野正弘 (Open-It) ,  伊藤拓実 (九大 理) ,  上野一樹 (KEK 素核研) ,  上野一樹 (Open-It) ,  内田智久 (KEK 素核研) ,  内田智久 (Open-It) ,  川越清以 (九大 理) ,  岸下徹一 (KEK 素核研) ,  岸下徹一 (Open-It) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  高力孝 (Open-It) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐藤伸彦 (KEK 機械工セ) ,  佐藤優太郎 (KEK 素核研) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  調翔平 (九大 理) ,  調翔平 (Open-It) ,  末原大幹 (九大 理) ,  末原大幹 (Open-It) ,  須江祐貴 (名古屋大 理) ,  千代浩司 (KEK 素核研) ,  千代浩司 (Open-It) ,  高富俊和 (KEK 機械工セ) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  田中真伸 (Open-It) ,  東城順治 (九大 理) ,  東城順治 (Open-It) ,  西村昇一郎 (東大 理) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  真玉将豊 (九大 理) ,  真玉将豊 (Open-It) ,  三部勉 (KEK 素核研) ,  三部勉 (Open-It) ,  村上武 (KEK 素核研) ,  村上武 (Open-It) ,  安田浩昌 (東大 理) ,  安田浩昌 (Open-It) ,  山中隆志 (九大 RCAPP) ,  山中隆志 (Open-It) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP) ,  吉岡瑞樹 (Open-It)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 73  号： 1  ページ： ROMBUNNO.22pK206-3  発行年： 2018年03月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *Si半導体検出器 ,  *ASIC ,  データ読取 ,  微分器 ,  μ粒子 ,  磁気モーメント ,  g因子 ,  双極子モーメント ,  電気モーメント ,  性能評価 ,  データ収集 ,  電気双極子モーメント ,  J-PARC
準シソーラス用語： *SSD【検出器】 ,  微分回路 ,  異常磁気モーメント

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q)

タイトルに関連する用語 (8件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  ASIC ,  性能評価