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J-GLOBAL ID：201802263576853117   整理番号：18A0742397

スパースモデリング法を使った走査型トンネル顕微鏡トポグラフィーデータセットの実空間分析

Real-Space Analysis of Scanning Tunneling Microscopy Topography Datasets Using Sparse Modeling Approach

著者 (4件)： MIYAMA Masamichi J. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  MIYAMA Masamichi J. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  HUKUSHIMA Koji (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HUKUSHIMA Koji (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN)
資料名： Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 87  号： 4  ページ： 044801.1-044801.8  発行年： 2018年04月15日 
JST資料番号： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面原子あるいはまた不純物の電子密度に起源がある多数のピークを含む走査型トンネル顕微鏡トポグラフィーデータを分析するスパースモデリング法を提案した。この方法は,L₁正則化とk-meanクラスタリングによる関連ベクトルマシンに基づき,測定グリッドの分解能を越える精度でピークの分離とピーク中心の位置決めが可能となる。提案した方法の妥当性と効率は,合成データを従来型の最小二乗法と比較して実証した。提案した方法を金属酸化物薄膜の実験データに適用して,欠陥の存在と対応する局所格子歪を明瞭に示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  モデリング ,  クラスタ分析 ,  平均法 ,  機械学習 ,  正則化 ,  バナジウム酸塩 ,  ストロンチウム化合物 ,  トポグラフィー【形態】 ,  集合 ,  格子欠陥 ,  格子歪
準シソーラス用語： K-meansクラスタリング ,  *L1正則化 ,  *スパースモデリング ,  データセット ,  バナジウム酸ストロンチウム ,  *関連ベクトルマシン

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

引用文献 (19件)：

• G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).
• G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 50, 120 (1983).
• J. Tersoff and D. R. Hamann, Phys. Rev. B 31, 805 (1985).
• Y. Okada, T.-R. Chang, G. Chang, R. Shimizu, S.-Y. Shiau, H. T. Jeng, S. Shiraki, A. Bansil, H. Lin, and T. Hitosugi, Phys. Rev. Lett. 119, 086801 (2017).
• N. L. Saini, H. Oyanagi, and A. Bianconi, Physica C 357-360, 117 (2001).

タイトルに関連する用語 (6件)： スパースモデリング ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  トポグラフィー ,  データセット ,  実空間 ,  分析