特許
J-GLOBAL ID：201803000189589587
支持地盤の深度測定方法
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
,
,
代理人 (2件)：
特許業務法人 インテクト国際特許事務所
, 石橋 良規
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-082512
公開番号（公開出願番号）：特開2018-178618
出願日： 2017年04月19日
公開日（公表日）： 2018年11月15日
要約：
【課題】地盤改良工において、支持地盤の深度を簡易かつ短時間に測定することができる、支持地盤の深度測定方法を提供する。【解決手段】支持地盤1の深度測定方法であって、地表面における任意の基準点Pと同時の常時微動観測を複数セット行い、常時微動観測による常時微動波形から、各観測セットにおける基準点Pからの鉛直フーリエスペクトル比を求めて、2セットの前記鉛直フーリエスペクトル比に見られるピーク周期差を求め、別途実施した数値解析結果に基づいて、前記ピーク周期差から2観測地点間の支持地盤1の深度差を求め、前記深度差と前記いずれかの観測地点で実施された地盤調査から判明した深度の深度とを用いて、支持地盤1の深度を測定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
支持地盤の深度測定方法であって、地表面において、任意の基準点と、前記基準点と間隔をあけた観測地点との同時の常時微動観測を複数セット行い、前記常時微動観測による常時微動波形から、各観測セットにおける前記基準点からの鉛直フーリエスペクトル比を求めて、2セットの前記鉛直フーリエスペクトル比に見られるピーク周期差を求め、別途実施した数値解析結果に基づいて、前記ピーク周期差から2観測地点間の前記支持地盤の深度差を求め、前記深度差と前記いずれかの観測地点で実施された地盤調査から判明した深度を用いて、前記支持地盤の深度を測定することを特徴とする、支持地盤の深度測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
