特許

J-GLOBAL ID：201803000321820650

三次元計測装置、ロボット、ロボット制御装置、及びロボットシステム

発明者： 原田 智紀 ,  橋本 浩一 ,  荒井 翔悟 ,  房州 俊樹
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 志賀 正武 ,  佐伯 義文 ,  大浪 一徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-149401
公開番号（公開出願番号）：特開2018-017653
出願日： 2016年07月29日
公開日（公表日）： 2018年02月01日
要約：

【課題】対象物が光沢を有する物体や半透明な物体であっても、対象物の光学特性による誤差を抑制し、三次元計測を精度よく行うことができる三次元計測装置を提供する。【解決手段】対象物を含む撮像領域が第1撮像部11により撮像された第1撮像画像と、撮像領域が第2撮像部12により撮像された第2撮像画像とに基づいて対象物の三次元形状を計測する三次元計測装置30であって、第1撮像画像と第2撮像画像に基づいて、第1撮像画像内において所定処理を行う対象となる第1対象領域のうち所定条件を満たす第1領域の大きさと、第2撮像画像内において所定処理を行う対象となる第2対象領域のうち所定条件を満たす第2領域の大きさとの少なくとも一方に基づいて、第1撮像部及び前記第2撮像部が対象物を撮像する際の撮像条件を変化させ三次元計測する、三次元計測装置。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

対象物を含む撮像領域が第1撮像部により撮像された第1撮像画像と、前記撮像領域が第2撮像部により撮像された第2撮像画像とに基づいて前記対象物の三次元形状を計測する三次元計測装置であって、 前記第1撮像画像と前記第2撮像画像に基づいて、前記第1撮像画像内において所定処理を行う対象となる第1対象領域のうち所定条件を満たす第1領域の大きさと、前記第2撮像画像内において前記所定処理を行う対象となる第2対象領域のうち前記所定条件を満たす第2領域の大きさとの少なくとも一方に基づいて、前記第1撮像部及び前記第2撮像部が前記対象物を撮像する際の撮像条件を変化させ三次元計測する、 三次元計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/26 ,  B25J 13/08

FI (3件)：

G01B11/24 K ,  G01B11/26 H ,  B25J13/08 A

Fターム (23件)：

2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065BB23 ,  2F065BB25 ,  2F065DD02 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ31 ,  2F065TT06 ,  3C707KS03 ,  3C707KS04 ,  3C707KT03 ,  3C707KT06 ,  3C707KT11 ,  3C707LT06

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 情報処理システムおよび情報処理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2015-000389   出願人：株式会社リコー
• 検査装置、検査方法およびプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2014-119100   出願人：株式会社キーエンス