特許
J-GLOBAL ID：201803001905542631
冗長性スキームを備えた発光ダイオードディスプレイ、及び統合欠陥検出検査を備えた発光ダイオードディスプレイを製造する方法
発明者：
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,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
田中 伸一郎
, 弟子丸 健
, 大塚 文昭
, 西島 孝喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-160748
公開番号（公開出願番号）：特開2018-010309
出願日： 2017年08月24日
公開日（公表日）： 2018年01月18日
要約：
【課題】ディスプレイパネル及び製造の方法を提供する。【解決手段】ディスプレイ基板は、画素エリア及び非画素エリアを含む。サブ画素のアレイ及び対応する下部電極のアレイは、画素エリア内にある。マイクロLEDデバイスのアレイは、下部電極のアレイに接合される。1つ以上の上部電極層は、マイクロLEDデバイスのアレイに電気的に接触して形成される。一実施形態において、マイクロLEDデバイスの冗長ペアは、下部電極のアレイに接合される。一実施形態において、マイクロLEDデバイスのアレイは、不規則部分を検出するために撮像される。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
冗長性スキームを備えたディスプレイパネルであって、
サブ画素のアレイを含む画素エリアを含むディスプレイ基板と、
前記サブ画素のアレイ内の冗長マイクロLEDデバイスのペアのアレイであって、各サブ画素は冗長マイクロLEDデバイスのペアを含み、対応するサブ画素内の各冗長マイクロLEDデバイスのペアは同じ原色発光で発光するように設計され、各冗長マイクロLEDデバイスが、無機半導体系材料からなるp-nダイオード含む、冗長マイクロLEDデバイスのペアのアレイと、
前記冗長マイクロLEDデバイスのペアのアレイに電気的に接触した1つ以上の上部電極層と、
を備え、
前記サブ画素のアレイの中に前記冗長マイクロLEDデバイスのペアのアレイから1つ以上のマイクロLEDデバイスが欠落しており、
前記サブ画素のアレイは、第1のサブ画素のアレイと、第2のサブ画素のアレイと、第3のサブ画素のアレイと、を含み、前記第1、第2、及び第3のサブ画素のアレイは、異なる原色発光で発光するように設計されたことを特徴とする、冗長性スキームを備えたディスプレイパネル。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (25件)：
5C094AA22
, 5C094BA25
, 5C094CA24
, 5C094DA09
, 5C094DB01
, 5C094GB10
, 5C094HA08
, 5C094JA08
, 5F142AA34
, 5F142BA32
, 5F142CA11
, 5F142CB14
, 5F142CB16
, 5F142CB23
, 5F142CB24
, 5F142CD02
, 5F142CD44
, 5F142CE02
, 5F142CE06
, 5F142CE08
, 5F142CE13
, 5F142CG03
, 5F142CG27
, 5F142FA32
, 5F142GA02
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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