特許
J-GLOBAL ID：201803005400006900

プログラム、情報処理システム、及び情報処理方法

発明者：
橋本 寛之

橋本 寛之 について

, 
利光 哲哉

利光 哲哉 について


出願人/特許権者：
株式会社富士通アドバンストエンジニアリング

株式会社富士通アドバンストエンジニアリング について

, 
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (3件)： 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦 ,  加藤 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-065163
公開番号（公開出願番号）：特開2018-169710
出願日： 2017年03月29日
公開日（公表日）： 2018年11月01日
要約：
【課題】カメラで撮影された各製品の画像を用いて、当該各製品における欠点の類似性を分析することができる。【解決手段】コンピュータに、複数の製品の各々の画像において、複数の検出アルゴリズムのそれぞれにより検出された欠点の領域を示すデータを取得する処理と、各製品の画像について、前記検出アルゴリズム毎に取得された各欠点の領域を重ねる処理と、前記各製品の各欠点の領域の重なりのパターンに基づいて、前記各製品の欠点の類似性を分析する処理と、を実行させる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
コンピュータに、 複数の製品の各々の画像において、複数の検出アルゴリズムのそれぞれにより検出された欠点の領域を示すデータを取得する処理と、 各製品の画像について、前記検出アルゴリズム毎に取得された各欠点の領域を重ねる処理と、 前記各製品の各欠点の領域の重なりのパターンに基づいて、前記各製品の欠点の類似性を分析する処理と、 を実行させるプログラム。
IPC (1件)：
G06T 7/00
FI (1件)：
G06T7/00 610Z
Fターム (6件)：
5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096DA02 ,  5L096JA16 ,  5L096MA07
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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