特許
J-GLOBAL ID:201803009323042678
試料を検査するための方法および機器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
藤田 アキラ
, 今井 秀樹
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-252081
公開番号(公開出願番号):特開2013-117529
特許番号:特許第6286120号
出願日: 2012年11月16日
公開日(公表日): 2013年06月13日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料を検査するための方法であって、
a.励起パルス周波数で連続して発生するパルスにて励起光を生成するステップと、
b.前記励起光で試料領域を照明するステップと、
c.検出光の各検出光子に対して、電気パルスおよびそれによる電気パルスシーケンスを生成する検出器を用いて、前記試料領域から発する検出光を検出するステップと、
d.アナログ-デジタル変換器を用いて、サンプリング速度で前記電気パルスシーケンスをサンプリングすることによって、デジタルデータシーケンスを生成するステップと、を有する方法において、
前記励起光が、プライマリ光から分割され、前記励起光と異なる前記プライマリ光の部分が、前記プライマリ光の前記異なる部分の各検出パルス用のさらなる電気パルスおよびそれによるさらなる電気パルスのシーケンスを生成する励起検出器によって検出され、
e.前記電気パルスおよび前記さらなる電気パルスが反対符号で重ね合わされ、重ね合わせ信号が、前記アナログ-デジタル変換器によってサンプリングされて前記デジタルデータシーケンスを生成し、および/または
f.前記電気パルスおよび前記さらなる電気パルスが反対符号でパワー結合器によって重ね合わされ、重ね合わせ信号が、前記アナログ-デジタル変換器によってサンプリングされて前記デジタルデータシーケンスを生成することを特徴とする方法。
IPC (2件):
G01N 21/64 ( 200 6.01)
, G02B 21/00 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 21/64 B
, G02B 21/00
引用特許:
出願人引用 (15件)
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審査官引用 (21件)
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測定機器及びオシロスコープ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-132776
出願人:テクトロニクス・インコーポレイテッド
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シーケンス測定装置およびシーケンス測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-032510
出願人:株式会社リコー
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走査過程に及ぼす機械振動の騒乱効果を補償するラスタモード走査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-349435
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フローアナライザー及び多重分析物診断システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-039744
出願人:ルミネックスコーポレイション
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エクスビボフローサイトメトリーの方法および装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2009-535333
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特開平1-270644
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時間相関のある多光子計数計測のシステムおよび方法
公報種別:公表公報
出願番号:特願2003-551520
出願人:アマシャムバイオサイエンスユーケイリミテッド
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試料媒体にある標的粒子の所定の特性を決定するための方法および装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願平10-524281
出願人:マックス-プランク-ゲゼルシャフトツルフェルデルングデァヴィッセンシャフテンエー.フォオ.,ベルリン, エボテックバイオシステムズアクチェンゲゼルシャフト
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高速データ処理を伴うレーザ走査型顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-117039
出願人:カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー
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撮像システムおよび逆空間光学設計を用いる方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-168954
出願人:パランティアリサーチ,エルエルシー, アミン,ヒマンシュエス., ボートニック,ダニエルビー., トローシー,グレゴリー, アンカーテクノロジー,エルエルピー
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特許第6664528号
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光信号の検出のための方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-141777
出願人:カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー
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特許第7859673号
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特許第7859673号
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蛍光寿命の測定装置及び方法
公報種別:公表公報
出願番号:特願2006-520003
出願人:アイシスイノベイシヨンリミテツド
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発光寿命測定装置およびその測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-203816
出願人:国立大学法人北海道大学
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特開平1-270644
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