特許
J-GLOBAL ID：201803012951183419

光波面補償装置および光波面補償方法

発明者：
西村 想

西村 想 について

, 
青木 一彦

青木 一彦 について

, 
柳田 美穂

柳田 美穂 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (2件)： 宮崎 昭夫 ,  緒方 雅昭
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-535392
特許番号：特許第6292121号
出願日： 2013年04月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光ビームの波面を変調して変調光ビームを生成する波面変調手段と、 前記変調光ビームの波面を測定する波面測定手段と、 前記変調光ビームの波面の目標となる目標波面を特定する目標波面特定手段と、 前記波面測定手段の測定結果と前記目標波面との差が小さくなるように、前記波面変調手段を制御する制御手段と、を含み、 前記目標波面特定手段は、前記目標波面を変更するための参照情報に基づいて前記目標波面を変更する、光波面補償装置。
IPC (3件)：
G02F 1/01 ( 200 6.01) ,  G02B 26/06 ( 200 6.01) ,  G02B 27/09 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G02F 1/01 D ,  G02B 26/06 ,  G02B 27/09
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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