特許
J-GLOBAL ID：201803013860997096
欠陥検査システム、及びマーキング方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 鈴木 三義
, 村山 靖彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-192884
公開番号（公開出願番号）：特開2015-059804
特許番号：特許第6260045号
出願日： 2013年09月18日
公開日（公表日）： 2015年03月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 搬送方向の上流側から下流側に向かって移動する帯状の検査対象にあるマーキング目標の位置を取得するマーキング目標位置取得装置と、
前記検査対象の搬送方向において前記マーキング目標位置取得装置より下流側に設置され、マーキングの指示信号が入力されると、前記マーキング目標に前記検査対象の直上方向からマーキングを施すマーキング装置と、
前記マーキングをする場合に、前記検査対象の前記搬送方向における走行速度に応じたタイミングで前記マーキングの指示信号を出力する制御装置と、
を備え、
前記制御装置は、
C(C≧2の整数)をマーキングペンの本数、Noをマーキング目標の選択番号を表わす欠陥番号、Sを検査時の検査対象の最高速度、S’を検査対象の実際の速度、Tmを欠陥No(N-C)から欠陥No(N)までの走行時間、Tnを欠陥No(N)のマーキングをするための所要時間、Mをマーキングペンの最短応答時間としたときに、
C本のマーキングペンを順番に選択し、
前回選択した欠陥No(N-C)が印字前の場合は、Tn>Tmであることで欠陥No(N)をマーキング可と判定し、
欠陥No(N)がS×Mの距離以上マーキングペンの手前に位置したとき、マーキングの指示信号をONとし、この位置でS’を検出し、
当該S’に基づいて、マーキングの指示信号ONから、マーキングペンが検査対象に接触するまでの時間を(S/S’-1)×Mだけ伸ばす
ことを特徴とする欠陥検査システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (8件)
全件表示
審査官引用 (8件)
全件表示
前のページに戻る
