特許
J-GLOBAL ID：201803018717856742
位相コントラスト及び/又は暗視野撮像のためのX線検出器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人M&Sパートナーズ
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-502658
公開番号（公開出願番号）：特表2018-528408
出願日： 2016年07月20日
公開日（公表日）： 2018年09月27日
要約：
本発明はX線撮像に関するものである。X線画像取得の間におけるX線被爆を低減するために、位相コントラスト及び/又は暗視野撮像に適したX線検出器が提供される。該X線検出器はシンチレータ層12及びフォトダイオード層14を有する。上記シンチレータ層は、位相格子構造18により変調された入射X線放射16を上記フォトダイオード層により検出されるべき光に変換するよう構成される。該シンチレータ層は、ピッチ22で周期的に配置されてアナライザ格子構造を形成するシンチレータチャンネル20のアレイを有する。これらシンチレータ層及びフォトダイオード層は、ピクセル26のマトリクスを有する第1検出器層24を形成する。各ピクセルは、各フォトダイオードがサブピクセル30を形成するフォトダイオードのアレイ28を有する。動作の間において隣接するサブピクセルは相互にシフトされた位相を持つ信号を受信する。動作の間において互いに同一の位相を持つ信号を受信するサブピクセルは、ピクセル毎の位相グループを形成する。動作の間にピクセル毎の同一の位相グループ内のサブピクセルにより受信された信号は、1つの位相グループ信号32を形成するように組み合わされる。動作の間における異なる位相グループの位相グループ信号は、1つの画像取得において取得される。一例において、前記シンチレータチャンネルのピッチは、前記位相格子構造により生成される周期的干渉パターン35のフリンジ周期Pfringeに補正係数cを適用することにより離調される。
請求項（抜粋）：
位相コントラスト撮像及び/又は暗視野撮像のためのX線検出器であって、
シンチレータ層と、
フォトダイオード層と、
を有し、
前記シンチレータ層は、位相格子構造により変調された入射X線放射を前記フォトダイオード層により検出されるべき光に変換し、
前記シンチレータ層は、アナライザ格子構造を形成するピッチで周期的に配列されたシンチレータチャンネルのアレイを有し、
前記シンチレータ層及び前記フォトダイオード層は、ピクセルのマトリクスを有する第1検出器層を形成し、
前記ピクセルの各々は、各フォトダイオードがサブピクセルを形成するフォトダイオードのアレイを有し、
動作の間において、隣接するサブピクセルは、互いにシフトされた位相を持つ信号を受信し、
動作の間において、互いに同一の位相を有する信号を受信するサブピクセルは、ピクセル毎の位相グループを形成し、
動作の間において、ピクセル毎の同一の位相グループ内のサブピクセルにより受信される信号は、1つの位相グループ信号に合成され、
動作の間において、異なる位相グループの位相グループ信号は、1つの画像取得において取得され、
前記シンチレータチャンネルの前記ピッチは、前記位相格子構造により生成される周期的干渉パターンのフリンジ周期に対して補正係数cを適用することにより離調され、ここで0<c<2である、
X線検出器。
IPC (3件)：
G01T 1/20
, A61B 6/00
, G01N 23/041
G01T1/20 B
, G01T1/20 G
, A61B6/00 300M
, A61B6/00 330Z
, G01N23/041
2G001AA01
, 2G001BA14
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA08
, 2G001EA01
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001KA06
, 2G001LA01
, 2G001LA10
, 2G188AA03
, 2G188AA27
, 2G188CC16
, 2G188CC18
, 2G188CC19
, 2G188CC22
, 2G188DD04
, 2G188DD05
, 2G188DD43
, 2G188EE07
, 4C093AA07
, 4C093CA34
, 4C093DA06
, 4C093EB12
, 4C093EB20
, 4C093EB22
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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