特許
J-GLOBAL ID:201803021108175616

結晶性高分子の劣化測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 棚井 澄雄 ,  飯田 雅人 ,  西澤 和純 ,  鈴木 史朗 ,  土屋 亮
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-248326
公開番号(公開出願番号):特開2018-100943
出願日: 2016年12月21日
公開日(公表日): 2018年06月28日
要約:
【課題】結晶性高分子の劣化を初期段階から検出できる結晶性高分子の劣化測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】この結晶性高分子の劣化測定方法は、結晶性高分子のラマンスペクトルを測定する工程と、測定したラマンスペクトルと標準試料のラマンスペクトルとを比較し、前記結晶性高分子のラメラ構造における非晶相の一部が結晶化しようとする前駆現象に起因した所定のピークのピークシフトを測定する工程と、を有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
結晶性高分子のラマンスペクトルを測定する工程と、 測定したラマンスペクトルと標準試料のラマンスペクトルとを比較し、前記結晶性高分子のラメラ構造における非晶相の一部が結晶化しようとする前駆現象に起因した所定のピークのピークシフトを測定する工程と、を有する結晶性高分子の劣化測定方法。
IPC (1件):
G01N 21/65
FI (1件):
G01N21/65
Fターム (14件):
2G043AA03 ,  2G043BA14 ,  2G043CA05 ,  2G043DA09 ,  2G043EA03 ,  2G043FA03 ,  2G043FA06 ,  2G043FA07 ,  2G043JA04 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01
引用特許:
審査官引用 (4件)
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引用文献:
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