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J-GLOBAL ID：201902262442385447   整理番号：19A1962153

BISTのための決定論的テストパターンを再生するための畳込みニューラルネットワークの応用【JST・京大機械翻訳】

Application of Convolutional Neural Networks to Regenerate Deterministic Test Patterns for BIST

著者 (2件)： Inamoto Tsutomu (Graduate School of Science and Engineering, Ehime University) ,  Higami Yoshinobu (Graduate School of Science and Engineering, Ehime University)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： ITC-CSCC  ページ： 1-2  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,BIST技術における故障被覆率を改善するための簡単な技術に関する予備的結果を示した。この技術は,ANNを実装する回路をターゲット回路と共に用いることができ,効果的な試験パターンを事前に与えることを仮定している。このようなANN回路は,与えられたテストパターンを近似的に再生する劣化メモリとして利用される。計算例において,技術による試験パターンの故障被覆率をISCAS’85ベンチマークのC7552上で計算した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 近似法 ,  故障 ,  *BIST ,  *テストパターン ,  被覆率 ,  ベンチマーク ,  記憶装置
準シソーラス用語： *畳込みニューラルネットワーク ,  *決定論 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： BIST ,  テストパターン ,  畳込みニューラルネットワーク ,  応用