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J-GLOBAL ID:201902298372949871   整理番号:19A0491621

環境走査Electron顕微鏡を用いたナノ結晶Cr2O3膜のその場熱処理研究【JST・京大機械翻訳】

In-Situ Heat Treatment Study on the Nanocrystalline Cr2O3 Film Using an Environmental Scanning Electron Microscope
著者 (9件):
資料名:
巻:号: 12  ページ: 225  発行年: 2017年 
JST資料番号: U7162A  ISSN: 2079-6412  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,加熱過程でSiウエハ上に堆積したナノ結晶Cr2O3膜の表面形態変化を,環境走査電子顕微鏡(ESEM)によりその場観察した。Cr2O3膜は熱応力の原因により高温で割れた。膜表面上の対応する亀裂面積割合を,濃淡値解析の原理に基づく画像解析ソフトウェア(SISC IAS V8.0)を用いてリアルタイムに評価した。一方,Cr2O3膜の亀裂面積百分率,相成分,および粒径に及ぼす加熱温度の影響も詳細に研究した。結果は,膜表面上の亀裂面積の割合が最初に加熱温度上昇と共に増加し,980°C付近で最大値に達し,次に再び徐々に低下することを示した。上記の傾向は,膜中の熱応力と粒成長の変化に密接に関連している。さらに,熱処理はCr2O3膜の粒径に強い影響を及ぼした。Copyright 2019 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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酸化物薄膜  ,  セラミック・磁器の性質 
引用文献 (28件):

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