特許
J-GLOBAL ID：201903003358479237
光学的関心領域を測定する方法およびシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山本 秀策
, 森下 夏樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-541263
特許番号：特許第6543347号
出願日： 2016年02月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 実験室用機器のキャリブレーションのための方法であって、前記方法は、
光源を備える光学系を提供することであって、前記光学系は、前記光源による励起の際に複数の生体試料からの蛍光発光をイメージングすることができ、各生体試料は、サンプルウェルプレート上の複数のサンプルウェルのうちの1つ内に含まれている、ことと、
前記光学系を使用して、各サンプルウェルからの1つ以上の蛍光閾値に関連する、前記複数のサンプルウェルにおける蛍光発光を検出することによって、少なくとも1つの初期の関心領域(ROI)を推定することと、
各ROIの1つ以上の中心位置を推定することと、
各ROIのサイズを推定することと、
前記複数のサンプルウェルから前記ROIの平均的サイズを決定することと、
1つ以上の広域グリッディングモデルを導出することであって、前記広域グリッディングモデルは、各ROIの前記推定された中心位置を分析する、ことと、
前記広域グリッディングモデルを適用して、前記推定された中心位置を前記サンプルウェルプレートのレイアウトの1つ以上の位置座標に関連付けることによって、前記ROI中心位置の精度を向上させることと、
前記広域グリッディングモデルの1つ以上のマッピング関数を用いて、見落としていたROIを回復させることと、
前記ROIのサイズを調整することであって、前記調整は、前記光学系のシグナル対ノイズ比を向上させる、ことと
を含む、方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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