特許
J-GLOBAL ID:201903003632464616

α-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-192199
公開番号(公開出願番号):特開2019-048766
出願日: 2018年10月11日
公開日(公表日): 2019年03月28日
要約:
【課題】 半導体素子に適用可能なα-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子を提供すること。【解決手段】 本発明によるα-Ga2O3単結晶は、カーボン濃度が6×1017cm-3以下に制御されている。本発明によるα-Ga2O3を製造する方法は、ハライド気相成長法により基板上にα-Ga2O3を成長するステップと、基板を除去するステップと、成長するステップで得られたα-Ga2O3を基板として、ハライド気相成長法によりα-Ga2O3上にα-Ga2O3をさらに成長するステップとを包含する。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
カーボン濃度は、6×1017cm-3未満である、α-Ga2O3単結晶。
IPC (9件):
C30B 29/16 ,  C30B 25/02 ,  C23C 16/40 ,  C23C 16/14 ,  H01L 29/24 ,  H01L 29/786 ,  H01L 33/32 ,  H01L 31/108 ,  H01L 21/365
FI (9件):
C30B29/16 ,  C30B25/02 Z ,  C23C16/40 ,  C23C16/14 ,  H01L29/24 ,  H01L29/78 618B ,  H01L33/32 ,  H01L31/10 C ,  H01L21/365
Fターム (86件):
4G077AA02 ,  4G077AB01 ,  4G077AB04 ,  4G077BB10 ,  4G077DB05 ,  4G077FJ03 ,  4G077HA12 ,  4G077TB04 ,  4G077TK11 ,  4K030AA03 ,  4K030AA14 ,  4K030AA18 ,  4K030BA08 ,  4K030BA42 ,  4K030BB02 ,  4K030CA05 ,  4K030CA12 ,  4K030FA10 ,  4K030JA01 ,  4K030LA12 ,  4K030LA15 ,  5F045AA03 ,  5F045AB40 ,  5F045AC00 ,  5F045AC02 ,  5F045AC11 ,  5F045AC14 ,  5F045AC15 ,  5F045AC16 ,  5F045AC17 ,  5F045AC19 ,  5F045AD07 ,  5F045AD08 ,  5F045AD09 ,  5F045AD10 ,  5F045AE01 ,  5F045AE29 ,  5F045AF01 ,  5F045AF09 ,  5F045BB14 ,  5F045CA09 ,  5F045CA13 ,  5F045DA59 ,  5F045DA62 ,  5F045DA63 ,  5F045DP07 ,  5F045DQ06 ,  5F045DQ08 ,  5F045EK06 ,  5F110BB09 ,  5F110CC02 ,  5F110DD04 ,  5F110EE02 ,  5F110EE03 ,  5F110EE04 ,  5F110EE06 ,  5F110EE43 ,  5F110EE44 ,  5F110FF01 ,  5F110FF02 ,  5F110FF03 ,  5F110FF04 ,  5F110FF29 ,  5F110GG01 ,  5F110GG12 ,  5F110GG17 ,  5F110GG19 ,  5F110GG24 ,  5F110GG44 ,  5F110HJ01 ,  5F110HJ04 ,  5F110HK02 ,  5F110HK03 ,  5F110HK04 ,  5F110HK06 ,  5F241AA41 ,  5F241CA46 ,  5F241CA64 ,  5F849AA05 ,  5F849AB01 ,  5F849CB03 ,  5F849FA05 ,  5F849GA02 ,  5F849LA03 ,  5F849XB20 ,  5F849XB39
引用特許:
審査官引用 (2件)

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