特許
J-GLOBAL ID:201903003632464616
α-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-192199
公開番号(公開出願番号):特開2019-048766
出願日: 2018年10月11日
公開日(公表日): 2019年03月28日
要約:
【課題】 半導体素子に適用可能なα-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子を提供すること。【解決手段】 本発明によるα-Ga2O3単結晶は、カーボン濃度が6×1017cm-3以下に制御されている。本発明によるα-Ga2O3を製造する方法は、ハライド気相成長法により基板上にα-Ga2O3を成長するステップと、基板を除去するステップと、成長するステップで得られたα-Ga2O3を基板として、ハライド気相成長法によりα-Ga2O3上にα-Ga2O3をさらに成長するステップとを包含する。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
カーボン濃度は、6×1017cm-3未満である、α-Ga2O3単結晶。
IPC (9件):
C30B 29/16
, C30B 25/02
, C23C 16/40
, C23C 16/14
, H01L 29/24
, H01L 29/786
, H01L 33/32
, H01L 31/108
, H01L 21/365
FI (9件):
C30B29/16
, C30B25/02 Z
, C23C16/40
, C23C16/14
, H01L29/24
, H01L29/78 618B
, H01L33/32
, H01L31/10 C
, H01L21/365
Fターム (86件):
4G077AA02
, 4G077AB01
, 4G077AB04
, 4G077BB10
, 4G077DB05
, 4G077FJ03
, 4G077HA12
, 4G077TB04
, 4G077TK11
, 4K030AA03
, 4K030AA14
, 4K030AA18
, 4K030BA08
, 4K030BA42
, 4K030BB02
, 4K030CA05
, 4K030CA12
, 4K030FA10
, 4K030JA01
, 4K030LA12
, 4K030LA15
, 5F045AA03
, 5F045AB40
, 5F045AC00
, 5F045AC02
, 5F045AC11
, 5F045AC14
, 5F045AC15
, 5F045AC16
, 5F045AC17
, 5F045AC19
, 5F045AD07
, 5F045AD08
, 5F045AD09
, 5F045AD10
, 5F045AE01
, 5F045AE29
, 5F045AF01
, 5F045AF09
, 5F045BB14
, 5F045CA09
, 5F045CA13
, 5F045DA59
, 5F045DA62
, 5F045DA63
, 5F045DP07
, 5F045DQ06
, 5F045DQ08
, 5F045EK06
, 5F110BB09
, 5F110CC02
, 5F110DD04
, 5F110EE02
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE06
, 5F110EE43
, 5F110EE44
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF04
, 5F110FF29
, 5F110GG01
, 5F110GG12
, 5F110GG17
, 5F110GG19
, 5F110GG24
, 5F110GG44
, 5F110HJ01
, 5F110HJ04
, 5F110HK02
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK06
, 5F241AA41
, 5F241CA46
, 5F241CA64
, 5F849AA05
, 5F849AB01
, 5F849CB03
, 5F849FA05
, 5F849GA02
, 5F849LA03
, 5F849XB20
, 5F849XB39
引用特許:
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