特許
J-GLOBAL ID:201903011288024817
顕微鏡および顕微鏡観察方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
恩田 誠
, 恩田 博宣
, 本田 淳
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-054545
公開番号(公開出願番号):特開2018-106203
特許番号:特許第6612915号
出願日: 2018年03月22日
公開日(公表日): 2018年07月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 部分領域において該部分領域の断面に応じて変調周波数で位相変調された少なくとも1つの照明光線と、該照明光線を試料に集束する顕微鏡対物レンズと、検出光線路と、少なくとも1つの復調手段とを備える顕微鏡であって、
パルス制御された照明光線が存在し、
照明光線路には、該顕微鏡対物レンズの前方に第1の偏光ビームスプリッタが設けられ、
該第1の偏光ビームスプリッタは、異なる偏光の少なくとも第1および第2の非干渉部分光線を生成し、
該第1および第2の非干渉部分光線は、異なる光経路を有し、
統合素子が、前記第1および第2の非干渉部分光線を非コヒーレントに重畳して交互に出力するように設けられ、
前記第1および第2の非干渉部分光線のうちの一方の光線路には、位相素子が設けられ、
該位相素子は、同時に異なる位相制御を有する少なくとも2つの領域を有し、
前記少なくとも2つの領域は、前記第1および第2の非干渉部分光線のうちの一方の光線路にあり、前記少なくとも2つの領域のうちの1つは、前記部分領域に対応する、顕微鏡。
IPC (2件):
G02B 21/06 ( 200 6.01)
, G01N 21/64 ( 200 6.01)
FI (2件):
G02B 21/06
, G01N 21/64 E
引用特許:
出願人引用 (4件)
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走査型顕微鏡検査における照明用光源装置、及び走査型顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-348265
出願人:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
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顕微鏡および顕微鏡検査法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-189560
出願人:カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー
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解像度を高めたルミネセンス顕微鏡検査
公報種別:公表公報
出願番号:特願2008-521906
出願人:カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー, カールツァイスイェナゲーエムベーハー
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顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-109018
出願人:独立行政法人科学技術振興機構, オリンパス株式会社, 株式会社日本ローパー
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審査官引用 (4件)
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走査型顕微鏡検査における照明用光源装置、及び走査型顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-348265
出願人:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
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顕微鏡および顕微鏡検査法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-189560
出願人:カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー
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解像度を高めたルミネセンス顕微鏡検査
公報種別:公表公報
出願番号:特願2008-521906
出願人:カールツァイスマイクロイメージングゲーエムベーハー, カールツァイスイェナゲーエムベーハー
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顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-109018
出願人:独立行政法人科学技術振興機構, オリンパス株式会社, 株式会社日本ローパー
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