特許
J-GLOBAL ID：201903011508647500

粒子特性測定装置

発明者：
スカリオン リチャード

スカリオン リチャード について

, 
コーベット ジェイソン

コーベット ジェイソン について


出願人/特許権者：
マルバーン パナリティカル リミテッド

マルバーン パナリティカル リミテッド について


代理人 (1件)： 名古屋国際特許業務法人
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-519749
公開番号（公開出願番号）：特表2019-536997
出願日： 2017年09月22日
公開日（公表日）： 2019年12月19日
要約：
光源(201)と、サンプルセル(202)と、光源(201)とサンプルセル(202)との間に配置された光学素子(204)と、検出器(203)とを備える粒子特性測定装置(200)。光学素子(204)は、光源(201)からの光を修正し、修正ビーム(207)を生成するように構成され、修正ビーム(207)は、a)自身に干渉してサンプルセル(202)において有効ビーム(208)を照射軸(206)に沿って生成し、b)遠視野において発散し、実質的に照光されない暗領域(209)を照射軸(206)に沿ってサンプルセル(202)から離れた位置に生成する。検出器(203)は、サンプルセル(202)から離れて配置され、サンプルセル(202)内のサンプルによって有効ビーム(208)から散乱された光を検出するように構成され、検出器(203)は、照射軸(206)から0〜10°の角度である散乱軸(306)に沿った前方散乱光または後方散乱光を検出するように配置されている。
請求項（抜粋）：
動的光散乱測定および/または静的光散乱測定を行うように構成された粒子特性測定装置であって、前記装置は、 光源と、 サンプル位置を画定するサンプルキャリアと、 前記光源とサンプルキャリアとの間に配置された光学素子であって、前記光学素子は、前記光源からの光を修正し、修正ビームを生成するように構成され、 前記修正ビームは、 a)前記修正ビーム自身に干渉して、前記サンプル位置において有効ビームを照射軸に沿って生成し、 b)遠視野において発散し、実質的に照光されない暗領域を、前記照射軸に沿って前記サンプルセルから離れた位置に生成する、光学素子と、 前記サンプルセル内のサンプルによって前記有効ビームから散乱された光を検出するように構成された、前記サンプルセルから離れて配置された検出器であって、前記照射軸から0°〜10°の角度に画定された散乱軸に沿った前方散乱光または後方散乱光を検出するように配置された検出器と、を備える粒子特性測定装置。
IPC (2件)：
G01N 15/02 ,  G01N 21/51
FI (2件)：
G01N15/02 A ,  G01N21/51
Fターム (15件)：
2G059AA02 ,  2G059BB06 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059FF11 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK03 ,  2G059LL01
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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