特許
J-GLOBAL ID:201903017107456123

X線管陽極および単色化光学部品を使用して複数の励起エネルギー帯が生成されるX線分析器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-559957
特許番号:特許第6468844号
出願日: 2013年02月27日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料スポットを分析するためのX線分析装置であって、 その上に電子が衝突して発散X線ビームを形成するターゲットを含むX線管であって、前記ターゲットは、第1のターゲット材料および第2のターゲット材料から形成される表面を有し、各ターゲット材料は、前記電子による衝突があるとそれぞれのエネルギープロファイルを放出するように調整された、X線管と、 前記発散X線ビームを受け取り、前記試料スポットに前記発散X線ビームを向けるための第1のX線光学部品であって、前記第1のターゲット材料によって放出された前記エネルギープロファイルから第1のエネルギーへ前記発散X線ビームを単色化する第1のX線光学部品と、 前記発散X線ビームを受け取り、前記試料スポットに前記発散X線ビームを向けるための第2のX線光学部品であって、前記第2のターゲット材料によって放出された前記エネルギープロファイルから第2のエネルギーへ前記発散X線ビームを単色化する第2のX線光学部品と、 前記第1のエネルギーおよび前記第2のエネルギーによって誘起された前記試料スポットからの蛍光であって、前記試料スポット中の少なくとも1つの元素の濃度を示す蛍光を受け取る検出器と、 を備え、 前記第1のターゲット材料および前記第2のターゲット材料の各ターゲット材料は、前記ターゲット上に積層された別個の層として形成される、 ことを特徴とするX線分析装置。
IPC (2件):
H01J 35/08 ( 200 6.01) ,  H05G 1/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
H01J 35/08 B ,  H01J 35/08 C ,  H05G 1/00 G
引用特許:
審査官引用 (8件)
全件表示

前のページに戻る