特許
J-GLOBAL ID:201903017107456123
X線管陽極および単色化光学部品を使用して複数の励起エネルギー帯が生成されるX線分析器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-559957
特許番号:特許第6468844号
出願日: 2013年02月27日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料スポットを分析するためのX線分析装置であって、
その上に電子が衝突して発散X線ビームを形成するターゲットを含むX線管であって、前記ターゲットは、第1のターゲット材料および第2のターゲット材料から形成される表面を有し、各ターゲット材料は、前記電子による衝突があるとそれぞれのエネルギープロファイルを放出するように調整された、X線管と、
前記発散X線ビームを受け取り、前記試料スポットに前記発散X線ビームを向けるための第1のX線光学部品であって、前記第1のターゲット材料によって放出された前記エネルギープロファイルから第1のエネルギーへ前記発散X線ビームを単色化する第1のX線光学部品と、
前記発散X線ビームを受け取り、前記試料スポットに前記発散X線ビームを向けるための第2のX線光学部品であって、前記第2のターゲット材料によって放出された前記エネルギープロファイルから第2のエネルギーへ前記発散X線ビームを単色化する第2のX線光学部品と、
前記第1のエネルギーおよび前記第2のエネルギーによって誘起された前記試料スポットからの蛍光であって、前記試料スポット中の少なくとも1つの元素の濃度を示す蛍光を受け取る検出器と、
を備え、
前記第1のターゲット材料および前記第2のターゲット材料の各ターゲット材料は、前記ターゲット上に積層された別個の層として形成される、
ことを特徴とするX線分析装置。
IPC (2件):
H01J 35/08 ( 200 6.01)
, H05G 1/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
H01J 35/08 B
, H01J 35/08 C
, H05G 1/00 G
引用特許:
審査官引用 (8件)
-
特開昭59-221948
-
特開昭60-064236
-
X線管及びX線発生装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-139878
出願人:株式会社島津製作所
全件表示
前のページに戻る