特許
J-GLOBAL ID：200903029709186268

X線分光装置およびX線分析装置

発明者：
宇高 忠

宇高 忠 について

, 
中嶋 佳秀

中嶋 佳秀 について


出願人/特許権者：
アワーズテック株式会社

アワーズテック株式会社 について


代理人 (1件)： 山村 喜信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-392192
公開番号（公開出願番号）：特開2002-195963
出願日： 2000年12月25日
公開日（公表日）： 2002年07月10日
要約：
【要約】【課題】 可搬型としての小型性を損なうことなく、軽元素の分析や微量の重元素の分析に適したX線分光装置およびX線分析装置を提供する。【解決手段】 内周面でX線11を分光する半円環状ないし円環状の第1および第2の分光素子3a,3bを備え、前記第1および第2の分光素子3a,3bが同軸上に設けられ、前記両分光素子3a,3bの軸線35上に、前記両分光素子3a,3bで分光されないX線を遮光する制限部材34が設けられている。
請求項（抜粋）：
内周面でX線を分光する半円環状ないし円環状の第1および第2の分光素子を備え、前記第1および第2の分光素子が同軸上に設けられ、前記両分光素子の軸線上に、前記両分光素子で分光されないX線を遮光する制限部材が設けられたX線分光装置。
IPC (4件)：
G01N 23/223 ,  G21K 1/02 ,  G21K 1/04 ,  G21K 1/06
FI (5件)：
G01N 23/223 ,  G21K 1/02 R ,  G21K 1/04 S ,  G21K 1/06 B ,  G21K 1/06 G
Fターム (17件)：
2G001AA01 ,  2G001AA09 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001EA02 ,  2G001EA03 ,  2G001EA09 ,  2G001EA20 ,  2G001GA01 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001KA01 ,  2G001NA16 ,  2G001PA07 ,  2G001SA02 ,  2G001SA10
引用特許：
審査官引用 (14件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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