特許
J-GLOBAL ID：201903017235307246
試験測定プローブ・カプラ及びその使用方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人山口国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-226565
公開番号（公開出願番号）：特開2019-101042
出願日： 2018年12月03日
公開日（公表日）： 2019年06月24日
要約：
【課題】物理的接触無しに、目標トレース中の電気信号の特性を測定する。【解決手段】プローブ・カプラ100には、基板101の底面に第1信号タップ導体と第1グラウンド・タップ導体とがあり、上面109に第1信号コンタクト103と第1グラウンド・コンタクト105がある。第1信号タップ導体は、第1信号コンタクト103に電気的に結合される。第1グラウンド・タップ導体は、第1グラウンド・コンタクト105に電気的に結合される。第1信号タップ導体をDUT128の目標トレース123と電磁気的に結合させ、第1信号コンタクト103から電気信号を試験測定システムで読み出すことで、目標トレース123中の電気信号の特性を測定する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
基板と、
該基板に沿って第1距離広がる第1信号タップ導体と、
該第1信号タップ導体に電気的に結合される第1信号コンタクトと、
上記基板に沿って第2距離広がり、上記第1信号タップ導体と実質的に平行で、上記第1信号タップ導体から第1横方向離れて配置される第1グラウンド・タップ導体と、
該第1グラウンド・タップ導体と電気的に結合される第1グラウンド・コンタクトと
を具える試験測定プローブ・カプラ。
IPC (3件)：
G01R 13/20
, G01R 31/302
, G01R 35/00
G01R13/20 F
, G01R31/28 L
, G01R35/00 L
2G132AA20
, 2G132AF11
, 2G132AL15
, 2G132AL29
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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