特許
J-GLOBAL ID：201903018428875485
光検出測距センサ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (7件)：
田中 伸一郎
, 弟子丸 健
, ▲吉▼田 和彦
, 大塚 文昭
, 西島 孝喜
, 那須 威夫
, 越柴 絵里
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-530709
公開番号（公開出願番号）：特表2018-537680
出願日： 2016年12月08日
公開日（公表日）： 2018年12月20日
要約：
電気光学装置(18)は、光パルスの少なくとも1つのビームを放射するレーザ光源(20)と、対象シーン(22)にわたって少なくとも1つのビームを送信及び走査するビームステアリング装置(24)と、感知素子(44)のアレイ(28)を含む。各感知素子は、単一光子の感知素子への入射時間を示す信号を出力する。集光光学系(27)は、送信されたビームによって走査された対象シーンをアレイ上に結像する。回路(50)は、アレイの選択された領域(70)内でのみ感知素子を作動させ、少なくとも1つのビームの走査に同期してアレイの上の選択された領域を掃引するように結合される。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
光パルスの少なくとも1つのビームを放射するように構成されたレーザ光源と、
対象シーンをわたって前記少なくとも1つのビームを送信及び走査するように構成されたビームステアリング装置と、
各感知素子が前記感知素子への単一光子の入射時間を示す信号を出力するように構成された感知素子のアレイと、
前記送信されたビームによって走査された前記対象シーンを前記アレイ上に結像するように構成された集光光学系と、
前記アレイの選択された領域内のみの前記感知素子を作動させ、前記少なくとも1つのビームの走査に同期して、前記アレイの上の前記選択された領域を掃引するように結合された回路と、を備える電気光学装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
5J084AA05
, 5J084AD01
, 5J084BA03
, 5J084BA11
, 5J084BA36
, 5J084BA40
, 5J084BB28
, 5J084CA03
, 5J084EA01
, 5J084EA02
